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[参考译文] TMS570LS0714:FLASH_ECC_TEST_MODE_2BIT 问题

Guru**** 2468610 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/675429/tms570ls0714-flash_ecc_test_mode_2bit-problem

器件型号:TMS570LS0714

您好!

我们使用 了 TMS570LS0714 并在我们的应用固件中实施了针对闪存的诊断测试。

我们定期使用测试类型 FLASH_ECC_TEST_MODE_2BIT 运行此测试、但固件在指令后挂起:

flashread =*(volatile UINT32 *) flashBadECC2;(sl_selftest.c 版本2.4.0的第1280行)

我们如何管理它?

 

注意:在闪存的第一部分(从0到0x0020000)、我们已经创建了一个禁用 ECC 的自定义引导加载程序版本。 这可能是一个问题吗?

谢谢你。

BR

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Lorenzo、

    这似乎与先前的一个帖子重复。 我们能否通过以下链接关闭此主题并专注于在另一个主题中应答: e2e.ti.com/.../2487064
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    是的、抱歉。

    我的浏览器混乱了。

    谢谢!