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MCU 专用引脚 PB1 +5V 耐压引脚是否应该能够通过 设计阻止过多的电流?
客户认为 他们必须首先关闭 OTG 自供电设备的电源、这样 VBS 引脚 就不会承受应力。 不是 OTG 标准 的热插拔点、客户永远 不会将(用户友好型)自供电 设备插入 活动的主机系统、而是在 切断 MCU OTG 主机电源的同时让设备保持通电。 Tivaware USB 大容量 器件客户端 可插入 Windows 主机、 即使 MCU 有时断电、VBUS 引脚也始终为 MCU 引脚(PB1)提供+5V 电压。 除非客户决定在每次为 MCU 重新供电时拔下 USB 电缆、否则 从一开始就有一个疯狂的想法、因为没有任何客户会这样做。 此问题 还会影响开发人员使用 USB0外设 VBUS 引脚 PB1 通过 EX-TM4C1294-XL Launch Pad 为 OTG 器 件供电、以便将数据发送到主机 Windows 系统。 OTG 端口设计不具有(完全)容错能力、因为 它用于 USB0器件软件开发、以将大量数据传输到 Windows 主机。
尽管如此 、MCU 公司的专家是否在 多种不同的场景下对 USB 外设引脚进行过应力测试? 他们似乎 遗漏的一个问题是、用户不会担心热插拔(自供电)设备必须 以某种特定顺序供电。 对于 基本用户的工作方式、谁会认为经 IEEE 验证的 OTG 标准应该有任何此类限制。 因此 、USB 外设引脚必须在 所有级别的 OTG 标准上都具有容错能力、而不仅仅 是一个或几个、所有级别的容错能力!
在 MCU 没有 LDO 或轨电源时、是否没有将肖特基串联二极管制造到 PB1中以阻止电流从 MCU 引脚 PB1流出? 可能还需要某种串联电阻、例如 TM4C123g 通常具有 ICDI 端口、这可能 会使 VBUS 信令的 IEEE OTG 标准协议失败? 否则、似乎应该已经将光子 VBUS 耦合开发到器件中、或者需要重新考虑 IEEE 标准。
MCU 引脚 PB1 在 (重复)条件下会承受应力、在此条件下、MCU 会在自供电设备切断 VBUS 电源之前关闭几个小时。