[参考译文] CCS/TMS570LS0432：微控制器编程有问题！

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/731342/ccs-tms570ls0432-problem-with-programming-the-microcontroller

器件型号：TMS570LS0432
主题中讨论的其他器件：UNIFLASH

工具/软件：Code Composer Studio

嗨、大家好

我想对我的微控制器进行编程、但我经常看到这条消息

连接到目标时出错：
(错误-2062 @ 0x0)
无法停止设备。重置设备、然后重试此操作。如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、较低的 TCLK)。
(仿真包5.1.507.2)

我已经检查了下电上电、还可以。有时、我可以成功地对其进行编程、但大多数情况下、我会遇到此消息。

我还尝试了 uniflash、但我再次看到了这条消息。当我使用 nowFlash 对其进行编程时、它会显示"Error 199 - Unable to connect to target on port address 0x000."。

请告诉我我应该怎么做？我使用 XDS100v2调试器。

提前感谢。

7 年多前

0 admin 7 年多前

TI__Guru**** 2595805 points

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您好！

您使用的是哪种电路板？

在 CCS 目标配置窗口中、执行连接测试后会出现什么错误("测试连接")？

0 admin 7 年多前

TI__Guru**** 2595805 points

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感谢您的评论。我使用的是定制板。

JTAG DR 旁路路径长度测试成功。
JTAG DR 旁路路径长度为1位。

---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用512个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG IR 完整性扫描测试成功。

---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

此测试将使用512个32位字的块。
该测试将仅应用一次。

使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG DR 完整性扫描测试成功。

[结束：德州仪器 XDS100v2 USB Emulator_0]

0 admin 7 年多前

TI__Guru**** 2595805 points

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您好、Hamid、

nTRST (JTAG 测试复位)应该通过一个电阻器被拉低以使 MCU 正确启动。如果该信号具有强的外部上拉电阻、则可能会导致上电问题。

基于 Arm 的微控制器（参考译文帖）

基于 Arm 的微控制器（参考译文帖）(Read Only)

[参考译文] CCS/TMS570LS0432：微控制器编程有问题！