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[参考译文] RM48L950:过压或瞬态电压对 MCU 的影响

Guru**** 2386620 points
Other Parts Discussed in Thread: TPS65381A-Q1
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/703018/rm48l950-impact-of-over-voltage-or-transient-voltage-on-the-mcu

器件型号:RM48L950
主题中讨论的其他器件:TPS65381A-Q1

您好!

您能否告诉我们、如果存在过压(大约12V)、会发生什么情况?
VCC/VCCIO 上施加的电压。

1>如果其电源上存在过压、MCU 是否会进入某种故障模式?

2>过压是否会通过 VCCIO 损坏 I/O 单元?

我们是否可以假设 VMON 负责过压或瞬态电压?

此致
巴杜语

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    只是想补充一点、该项目不使用 TPS65381A-Q1 PMIC、我们使用分立式电源。

    我们是否可以假设问题的答案是
    过压、无论持续时间多么短、都将永久损坏器件?
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    您好!
    您应避免使用与 TI 推荐的电源不同的任何电源。
    任何高于绝对最大额定值的电源都可能会永久损坏器件(Vcc ->-0.3. 1.43;Vccio ->-0.3...4.6V)。 此外、长时间在绝对最大额定值下工作可能会导致器件不稳定。
    VCOM (生成 PGMCU 和 PGIO 信号)可隔离内核逻辑和 I/O 这样、您就不必遵循加电/断电顺序。

    此致、
    米罗
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    您好!

    感谢您提供信息。
    我们清楚地知道、这可能会永久损坏器件。

    我们将添加过压保护、
    但是、如果我们想知道过压会对器件的硬件逻辑造成何种损害、

    我们是否可以假设以下预测对器件的永久损坏是正确的。

    1>关于内核逻辑、内核逻辑具有低输入阻抗、如果存在过压、
    会有过多的电流流入内核逻辑、VCC 和 GND 之间会短路、
    进而损坏器件。

    2> VCC 和 VCCIO 之间的隔离会被破坏,并且会出现短路
    在 VCC 和 VCCIO 或其他电源域之间创建。
    进而损坏器件。

    我知道 TI 可能尚未对此进行详细测试、
    任何有关老年性的信息都是有用的。

    此致
    巴杜语
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    您好、paddu、
    您不应期望可预测的行为、因为这超出了器件的任何电气规格。

    此致
    米罗