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[参考译文] TM4C1233H6PM：Tiva MCU 烧坏

admin
Guru**** 1810550 points
Other Parts Discussed in Thread: TM4C1233H6PM
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/698514/tm4c1233h6pm-tiva-mcu-burned

器件型号：TM4C1233H6PM
主题中讨论的其他器件：TM4C123、

大家好

我基于 TM4C1233H6PMI 开发 CAN 总线连接设备。 该器件具有4个外部连接、2条电源线(正极和接地)和 CAN-L/H

该器件连接到支持 CAN 总线的系统、例如工业设备和汽车。  

有时、器件会返回不响应状态。 从测试中可以看到、损坏的是 MCU。

 

电源电路由以下部分组成：

-使用 S1M (二极管)的反极性保护  

-使用 SMAJ33A (TVS)的瞬态保护

- SMPS TI LM536015QDSXTQ1

SMPS 的5V 输出转换为3.3V 并连接到 MCU。

 

CAN 总线 电路由以下部分组成：

- CAN 总线收发器：TI SN65HVD232DR

收发器的输出连接到 MCU。

 

损坏的器件测试观察结果：

-受损器件上的电源电路未损坏- SMPS 输出5V

-与正常运行相比，电流消耗降低

-我无法使用调试器与 MCU 联系

 

解决方案：

我考虑在 CAN 总线线路上添加一个 ESD 保护二极管(nup2125)、以保护收发器免受电压瞬变的影响。  

但是、我不确定这是否足够、或者器件是否通过 CAN 总线线路损坏。

如果您对上述问题有任何帮助/建议/提示、我将不胜感激。

谢谢

此致

Christian

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    TI__Guru**** 1810550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    我会感到惊讶的是、损坏会通过 CAN 总线、SN65HVD232DR、然后销毁部件、直到您无法与 JTAG 连接。 我会更怀疑权力和理由。 如何将 TM4C123的5.0V 转换为3.3V？ 您是否为 SN65HVD232DR 使用相同的3.3V 电源？ CAN 总线接地是否与 TM4C123接地共用？
  • 0
    TI__Guru**** 1810550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Bob、您好、感谢您回来！

    使用 TI TPS63031DSKR 降压/升压转换器将5.0V 转换为3.3V (我们为5V 超级电容器充电、并使用 BBC 提供电源以实现安全关断)。
    SMPS、BBC、MCU 和 CAN 收发器都共用一个公共接地。 此外、收发器和 MCU 均连接到 BBC 3.3V 输出。

    此致
    Christian
  • 0
    TI__Guru**** 1810550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您是否在 TM4C1233H6PM 上看到任何生命体征？

    1.您是否在 VDDC 上测量1.2V 电压？

    2.如果连接了外部晶体，它是否会振荡？

    如何通过 JTAG 进行连接？ 如果您使用 XDS200扫描控制器、则可以独立于 M4 CPU 测试 DAP 扫描路径。

  • 0
    TI__Guru**** 1810550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    你(们)好 Bob

    感谢您的建议。 请在下面找到答案。

    我在 VDDC 上测量1.28V

    2.我使用外部16MHz 晶体(ABM3B-16.000MHZ-B2-T)。 我在 OSC0/OSC1上看不到任何信号(也使用正常工作的器件进行了测试、在此上我获得16MHz 信号)。

    请注意、器件调试为"锁定"。 我已尝试解锁器件(通常没有问题)。
    测试连接提供以下输出(这是在我执行解锁序列后完成的)：

    [开始：德州仪器 XDS2xx USB 调试探针]

    执行以下命令：

    %CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -S 完整性

    [结果]


    ---- [打印电路板配置路径名]---------------

    C：\Users\CSS\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
    TI\0\BrdDat\testBoard.dat

    ---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------

    此实用程序已选择了560/2xx 类产品。
    此实用程序将加载程序'xds2xxu.out'。
    库构建日期为"2017年11月6日"。
    库构建时间为'10：01：26'。
    库软件包版本为'7.0.100.0'。
    库组件版本为'35.0.0'。
    控制器不使用可编程 FPGA。
    控制器的版本号为"13"(0x0000000d)。
    控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
    此实用程序将尝试重置控制器。
    此实用程序已成功重置控制器。

    ---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------

    此仿真器不会创建复位日志文件。

    ---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    扫描测试：1、跳过：0、失败：0
    使用0x00000000执行测试。
    扫描测试：2、跳过：0、失败：0
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试：3、跳过：0、失败：0
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试：4、跳过：0、失败：0
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试：5、跳过：0、失败：0
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试：6、跳过：0、失败：0
    所有值均已正确扫描。

    JTAG IR 完整性扫描测试成功。

    ---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----

    此测试将使用64个32位字的块。
    该测试将仅应用一次。

    使用0xFFFFFFFF 进行测试。
    扫描测试：1、跳过：0、失败：0
    使用0x00000000执行测试。
    扫描测试：2、跳过：0、失败：0
    使用0xFE03E0E2执行测试。
    扫描测试：3、跳过：0、失败：0
    使用0x01FC1F1D 进行测试。
    扫描测试：4、跳过：0、失败：0
    使用0x5533CCAA 进行测试。
    扫描测试：5、跳过：0、失败：0
    使用0xAACC3355进行测试。
    扫描测试：6、跳过：0、失败：0
    所有值均已正确扫描。

    JTAG DR 完整性扫描测试成功。

    [结束：德州仪器 XDS2xx USB 调试探针]

    BR
    Christian
  • 0
    TI__Guru**** 1810550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    大家好。

    我们对上述建议仍然非常感兴趣。

    谢谢
  • 0
    TI__Guru**** 1810550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感受您的疼痛。    您写的是："有时、设备会回复无响应。"   这不是太定量-是吗？

    更有用的是，“设备总数的百分比”，它显示了此故障... 而且-这是一次"新的"事件吗？   (例如、这些器件(过去)是否成功、以及"最近才成功"、是否已注意到这种故障？  是否观察到这种情况(仅限最近的故障)-可能会发生什么变化-您过去的电路板构建(成功)与这些较新的构建相比 ？   (失败)

    MCU 的外部 xtal 驱动器已丢失(最常见的情况是)、这一事实表明 MCU 受到了"严重"的电源干扰。  正如供应商代理所指出的那样-我怀疑 CAN 总线是有因果关系的。   我更有可能怀疑3V3稳压器的供电(开启和关闭)会上升。   5V 超级电容器问题-在  上电和断电期间、示波器监控器[真正捕获和存储](包括5V 和3V3波形)会有所帮助！    根据经验-有时该超级电容器(连接到5V 稳压器的输出) 当   电压输入到该5V 稳压器时、将"保持" 5V 稳压器的输出电压(创建 V_Reg_OUT > V_Reg_IN) 衰减/移除。   这是一个"非法运行条件"-并且可能导致(以下) 3V3 Reg. 错误行为-尖顶您的 MCU。   (这样-至少在理论上...)

    如果不存在- 5V 和3V3电源线上(两者都存在)应存在小值、快速作用的陶瓷(旁路)电容器。    您还需要(非常)靠近 MCU (多个) Vdd 引脚和 VDDA 的电容器。    (即使您不使用 MCU 的模拟功能、尤其是在您不使用 MCU 的情况下！   您必须将 VDDA 连接到3V3 -即使模拟器件未使用)   (我会尽量移除超级电容器-至少在早期测试期间-并密切监控运行-以了解这会如何(或是否)影响。)

    您需要"以 更高的频率更有针对性地诱发此故障"、以便您能够最好地检测各种校正策略的影响。   我认为应该引入"上电和断电循环"-可能是在 MCU 编程为切换多个 LED (可能会受到远程监控)且"立即"检测 并宣布您的 MCU 故障的情况下！     建议"加电和打开"持续~ 10秒、然后"断电和关闭"持续~5秒。   (每分钟启用4个完整的电源周期-在4小时内启用近1K 个周期...)

    分治总是有帮助的。   如果您在 CAN 收发器的"外侧"提供端接电阻器。 但是、如果您的 MCU 继续发生故障、断开 CAN 互连、然后重复执行上电/断电、这可能会使 CAN 连接"无效"。

    您的 MCU 的 JTAG 线不应悬空。    (或由"过高"值终止、MCU 内部上拉电阻- 10K 或更低(外部 Rs)[甚至在中磨损]、这证明在增加信号稳健性和减少   破坏性 、"瞬态信号入侵"的"邀请"方面非常出色。)

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    TI__Guru**** 1810550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Christian：

    [引用 user="Christian Steiniche 的说法]我们对上述建议仍然非常感兴趣。
    [/报价]

    添加 CB1的优秀摘录、如果尚未涵盖、您可以考虑 以下信息。

    似乎您 用于为 MCU VDD 引脚供电的5V 降压稳压器至3V3在上电期间可能会过冲。 请查看 数据表 、以确定降压开关加电时可能发生的过冲量。 我们选择在 这 种降压情况下使用3V3 LDO 稳压 器、如果可能发生3V3过冲、则可提供输出电压安全钳位。 在前几个开关脉冲上、降压稳压器通常不会将5V 降压至3V3。   

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    TI__Guru**** 1810550 points
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    大家好。

    感谢您提出的出色建议。 正如建议的那样、我们现在将开始收集有关故障器件的尽可能多的信息、这样我们就可以缩小导致 MCU 不响应的条件。

    此致
    Christian
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    TI__Guru**** 1810550 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    请提供您的设备的(请求的)"过去历史记录"-尤其注意这些故障是否为"新"。 (即最近的"批量构建"产生的结果。) 整体而言、"单元总故障百分比"至关重要-但仍然不存在...

    虽然"尽可能多的信息"是一个目标、但 不应这样做、"仔细考虑先前详细和请求的"关键数据"(影响更大)的具体细节。"

     “自动测试”的建议方法(过去尝试过/已知)。 已提供-因此(应)...   

    正确的"重复性和监控良好的电源循环"(如之前所述)远远地达到"加速、轻松和增强"此类测试结果。   (添加了多个切换(并进行电气监控)的"Test LED"(测试 LED)-可实现" MCU 故障的瞬时检测"-即使此时 、尤其是在"没有人测试仪(可能会无聊/分心) "出现时也是如此！)