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[参考译文] TMDSRM48HDK：针对此器件的辐射测试

admin
Guru**** 2478875 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/697407/tmdsrm48hdk-radiation-testing-for-this-part

器件型号：TMDSRM48HDK

我想使用该部件来构建耐辐射的 CubeSat。  我想使用 OpenSatKit (CFS、COSMOS 和42)构建一个原型、作为飞行软件、地面系统软件和测试平台。  该器件功能非常强大、但我尚未看到任何文档、说明它是否专为可能在 GEO 环境中暴露于辐射的 CubeSat 的耐辐射应用而设计。  您能否详细说明是否已对此器件(或微控制器本身)进行过辐射测试？

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    TI__Guru**** 2478875 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好 Todd、

    TI 在 Hercules 芯片上进行了辐射暴露测试。 利用测试芯片上获得的数据来确定 SRAM、闪存和数字逻辑上的单粒子翻转(SEU)的基本故障率。

    TI 使用 IEC/TR 62380模型来估算因器件永久性故障而导致的时基故障率。