您好的团队：
我们开始将安全诊断库版本2.4.0集成到我们的项目中。 演示项目 TMS570LS1227_Noos 已经被建立并正确运行。 当我们将安全诊断库添加到项目中时(使用 uC/OS-II)，在调用时会出现错误：
RetVal = sl_SelfTest_SRAM (SRAM_ECC_ERROR_ENCED_2BIT、TRUE、failInfoTCMRAM)；
在运行指令之后：
ramread64 = sramEccTestBuff[2]； // sl_selftest.c 中的行278
程序正确跳转到_expt_vec_abort_data、然后：
if (((TCRAM_RAMCTRL_ECCWREN =>(sl_tcram1REG->RAMCTRL & TCRAMCTRL_ECCWREN)))
||(TCRAM_RAMCTRL_ECCWREN ==(sl_tcram2REG->RAMCTRL & TCRAMCTRL_ECCWREN)))
&&(TRUE =sl_FLAG_GET (SRAM_ECC_ERROR_ENCERAING_2BIT)))(
/*看起来写入 ECC 区域已启用、请检查错误地址是否在测试缓冲区范围内*/
maskDAbort = true；
}；
但之后、程序跳转到无限循环中的这个_exbion_vec_abort_data（)、nERROR 引脚为低电平有效。
REFence《uC.OS-II 与德州仪器》的 ARM-Cortex-R 和 HALCoGen 搭配使用、标签为"interrupts"配置、如下所示：
标签"R4-MPU-PMU"标签配置如下所示：
在此处添加例外：
您对我们可能出错的地方有什么看法吗？
谢谢、此致
