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将 REF2033输出 HOT 连接到模拟比较器 PIN0 (c0+ PC6)输入的 VREF 似乎 可以降低 GUI 示波器小工具中的 ADC 采样噪声、 还可以阻止 USB0客户端突然断开 PWM0活动。 但是 、WDOG 随后 多次复位 MCU、 通过5k POT (+3V3/18k 至 AGND)将外部 VREF 设置 为更少3.2V 的看门狗复位。
奇数部分 ADC 采样直流总线电压 读数 比 之高几伏、直到 PWM0触发速度 从1ms 提高到 80us。 短接的 VDD MCU 2V LDO 稳压器引脚和所有其他 使用的引脚 未显示 任何曲线轨迹应力。
此外、移除 了带热空气的+3V3 LDO、 接地引脚焊盘 稍微灰色 、但3V3 产生 的直流纹波(低于捕捉)与 EVM LDO 稳压器大致相同。
MCU 复位后的最终结果导致 MCU 的 VDD 短路、这是在 直流总线电压 <100V 时对同一 PCB 进行数月测试的结果。 从 PCB 中再次移除故障 MCU (5倍)、 确保足够的 VDD 引脚 短接至 GND、 超过 VBUS 引脚是问题原因。 在 TQFP 128引脚上镀2oz 的神奇之处是、相同的 PCB 新 MCU 更少镀金插座将会更快!
已安装新 MCU -是否应将 REF2033用作模拟比较 器3.2V VREF 导致 VDD/VDDA 混乱? 直接连接到 C0+ PC6的 REF2033输出是否会播放 VDD 短路的一部分?
当将 REF2033用于外部比较器 C0+阈值+3.2V 时、新 MCU 在 POR 后具有相同的问题:电压和温度读数升高。 REF2033 +3.2V 输出具有1k 串联电阻22nf 至 AGND 模拟比较器引脚 PC6。
原始5k POT 阈值 PC6输入分频器具有10k 至 AGND 的电阻、满圈打开5k 至 AGND、总电阻为15k。 从3V3到 PC6的有效1k 设置阈值2.9V。 后来、当比较器跳闸的频率高于设置的2.9V 且 WDOG 疯狂时、将10k 更改为18k 设置阈值3.29v。
将模拟比较器阈值 C0+(PC6)设置为高于3V 似乎会影响连接到 VDD 的 VDDA 中的内部 VREF。 短接的 VDD 的读数为11.3 Ω GNDA 引脚10至 VDD 引脚7。 由于 外部 PC6设置 C0+阈值、模拟比较器内部 VREF (阶梯解码器)被禁用。
MAP_ComparatorRefSet (COMP_BASE、COMP_REF_OFF);
PC6大于3V 的症状是空闲 ADC 读数升高、直到 PWM0将序列发生器上的触发时序从1ms 更改为40us 的计数中心。 其他帖子表示的序列发生器触发时序影响样本采集的振幅、但它可能与内部 VDDA=VREFP 基准更相关。
奇怪 的是、当过去几年的 PC6阈值小于3V 时、ADC 1ms 空闲样本与40us 样本相同。
PC6通过+3V3阈值2.5V 连接回 POT、仍然具有 POR 高直流总线电压和 MCU 温度测量。 不确定是什么导致了这种情况、就像 将 PC6连接到 REF2033以设置更高的故障阈值之后那样。 今天晚些时候,我们发现三个 UCC27714栅极驱动器中的一个 HO 输出具有到 HS 引脚的反向路径,另一个糟糕的栅极驱动器:-)
已报告过几次当 HS 与 HO 驱动短路时、UCC27714会导致高电感电压峰值。 几个月前、栅极驱动升高130欧姆、远高于4安峰值电流数据表显示可行。 在将 PC6移动到 REF2033以实现更好的噪声隔离和峰值 C0+跳变点>2.9V 之前、必须相信该栅极驱动器发生了故障。