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[参考译文] TMS570LC4357：EFuse 控制器自检位置

admin
Guru**** 2451970 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1191694/tms570lc4357-efuse-controller-self-test-location

器件型号：TMS570LC4357

我正在实施 Efuse 控制器自检、作为 TMS570LC4357板的诊断。 参考手册中明确描述了 Efuse 自检的步骤、但是我没有看到运行这个测试的时间的任何明确说明。 我可以在复位后随时运行该测试、还是有一个特定的序列可以调用该测试？ 此测试是否取决于要初始化的任何特定硬件？

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    TI__Guru**** 2451970 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Mathew：

    电子保险丝用于在上电复位(nPORRST)失效后配置器件。 作为上电复位序列的一部分、eFuse 值被读取并载入内部寄存器。 这称为 eFuse 自动载入。 电子保险丝值通过单位纠错、双位错误检测(SECDED)代码进行保护。 这些保险丝在器件的初始出厂测试期间进行编程。 电子保险丝控制器被设计成一旦器件被封装、电子保险丝的状态就不能被改变。

    对于安全关键型系统、在器件复位后、应用程序必须检查 eFuse 控制器的状态。

    您可以在复位后随时执行测试。 通常在启动期间对其进行测试。  

    电子保险丝自检由安全诊断库(SDL)提供支持。 您可以使用 API 进行测试：

    SL_SelfTest_EFuse (...)

    https://www.ti.com/tool/SAFETI_DIAG_LIB