Other Parts Discussed in Thread: HALCOGEN
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当 GLBSTAT 位0:OSC FAIL 被置位时、TI 是否有任何关于如何缩小并找出根本原因的建议? 外部晶体或内部振荡器有问题吗?
根据数据表、在以下条件下设置 OSC 故障:fHFLPO / 4 < fOSCIN < fHFLPO * 4、但 OSCIN 上的测量值在20MHz 时保持一致、因此我们需要一些帮助来找出导致此故障的其他原因。
谢谢、
Kevin。
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当 GLBSTAT 位0:OSC FAIL 被置位时、TI 是否有任何关于如何缩小并找出根本原因的建议? 外部晶体或内部振荡器有问题吗?
根据数据表、在以下条件下设置 OSC 故障:fHFLPO / 4 < fOSCIN < fHFLPO * 4、但 OSCIN 上的测量值在20MHz 时保持一致、因此我们需要一些帮助来找出导致此故障的其他原因。
谢谢、
Kevin。
尊敬的 Kevin:
OSC 故障检测机制是您在帖子中描述的频率范围检查。 因此、可检测到 OSC 故障的原因有两个:
1) 1)外部振荡器实际超过 fHFLPO*4或降至 fHFLPO/4以下、或者
2) HF LPO 发生变化、使得 fHFLPO 超过 fOSCIN*4或者下降到低于 fOSCIN/4
如果 OSCIN 在20MHz 时保持一致、请检查在系统模块初始化(时钟启动)期间是否执行了 LPO 调整程序。 请注意、默认(未修整) fHFLPO 的频率范围为5.5MHz 至19.5MHz。 因此、如果您的器件具有5.5MHz 的未修整 fHFLPO、并且假设它已修整到该值的29.52%、则实际 fHFLPO 解决方案修整将为1.6236MHz。 这肯定会导致发出"振荡器故障"信号。
希望这对您有所帮助。
此致、
Sunil
您好、Sunil、
我们调用 trimLPO ()函数、它使用 HalCoGen 代码指定的 OTP 0xF00801B4[31:16]中的值对 LPOMONCTL[15:0]进行编程。 当使用 ECLK 引脚和 CLKTEST 寄存器发生故障时、我们还测量到 HFLPO 具有9.6MHz 的频率。
LPO CLKDET 机制、它是否验证了内部振荡器的 OSCIN 输入以及内部振荡器的输出? 由于我在 OSCIN 上看到20MHz +/- 1%、并且 HFLPO 似乎也在9.6MHz 上运行、那么故障是否在内部主振荡器上?
我还想指出、数据表中的恢复序列能够重新启用振荡器。 在处于 TMS570工作温度范围内的低温下重启电源后、也会发生此问题。
谢谢、
Kevin。