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[参考译文] TMS570LS1227：使用自检模式来确定 ADC 输入通道上的开路/短路

admin
Guru**** 2617245 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/784289/tms570ls1227-use-of-self-test-mode-to-determine-open-short-on-adc-input-channels

器件型号：TMS570LS1227

您好！

TRM SPNU515C–2018年3月、第22.8.2.1节 "使用自检模式确定 ADC 输入通道的开路/短路"。

表22-4. ADC 输入通道条件的确定

是否可以提供针对 近似值的建议阈值 ADREFLO 和 大约 ADREFHI 用于分析 VN、Vu 和 Vd？ 这可能是 ADREFLO 和 ADREFHI 的百分比、也可能是电压？

此致、Tony

  • 0
    TI__Guru**** 2617245 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好！
    我们没有建议的阈值。 例如、数据表仅给出了 Rmux 的最大可能值。 在自检场景中、Rmux 可以发挥作用、如果未定义、则无法定义精确的值。 R1和 R2也具有近似值。

    此致、
    米罗