[参考译文] TMS570LC4357：在线 SRAM 自检

您好、Charles、

请参阅下面的蓝色备注并标记为>>：

在 DSP 启动时、我们可以启用 ECC 并运行 PBIST 来自检 RAM。

运行时：具有 SECDED 的 RAM ECC 模块将确保检测到一个双故障点。

还会执行配置寄存器的回读。

这些方法是否足以用于 ASIL C？

或者我们需要动态测试 RAM 以增加覆盖范围(PBIST 和 CRC)？

>> CPU 未访问的 SRAM 位置中的故障被视为潜在故障、如果存在另一个故障(例如 CPU 的 ECC 机制)、则可能导致违反系统的安全目标。 PBIST 机制检测到潜在故障。 在 SRAM 上执行 PBIST 的频率取决于 应用程序的容错时间间隔(FTTI)和多点故障检测间隔。

但是、为了执行实时测试、我们需要备份 RAM、执行测试并最终恢复 RAM。

如果我们一次只处理 RAM 的一小部分、这会有所帮助、但它仍然需要大量处理、并且考虑到所有 RAM 分配及其 MPU 设置等、这可能会相当复杂

>> PBIST 是一种破坏性测试、因此在系统启动和/或关闭时执行它是最有意义的。 正如您所说的那样、也可以在应用程序执行期间执行 PBIST。 这种做法更涉及，但肯定是可行的。 它不需要使用任何全局变量、也不需要仔细管理 CPU 暂存区存储器的堆栈和 MPU 配置。

因此，这些联机测试可以在系统关闭时执行，然后再关闭电源。

仅在启动时运行 RAM PBIST 是否足够，或者需要在关断前在关断时运行？

我可以看到在关断时运行 PBIST 测试的一个原因是检查温度是否会对 SRAM 产生影响。

(在大多数情况下、关断时的温度高于启动时的温度)。

>>您可以在关断前执行 PBIST 例程、以评估较高的温度是否会对 SRAM 产生影响。 根据 PBIST 执行所需的时间、您还可以在启动时运行它、以确保 SRAM 在执行安全关键型应用之前没有任何潜在故障。  

您建议使用哪些方法？

>>安全手册中介绍了所有安全机制和诊断功能、并在 FMEDA 电子表格中量化了其有效性。 我们无法提出任何超出此范围的具体建议、因为它在很大程度上取决于终端设备和所针对的安全完整性水平。

此致、

Sunil