This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TMS570LC4357:使用 TEST 引脚的 AJSM 旁路

Guru**** 2614265 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/779124/tms570lc4357-ajsm-bypass-using-test-pin

器件型号:TMS570LC4357

您好、支持人员、

我知道 TEST 引脚仅供 TI 内部使用。

但是,我至少需要牢记以下关于可能性的重要要点。

如果 AJSM 密码丢失或器件内的 OTP/NVM 损坏、JTAG 将无法与器件通信。

但使用 TEST 引脚、如果需要、TI 内部的 ATE 应该能够在不知道 AJSM 密码的情况下与器件通信。

这种理解是否正确?

请确认。

谢谢你。

此致

Pashan

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好 Pashan、

    我们建议通过电阻器或直接接地短路来下拉该测试引脚。 如果 JTAG 通过 AJSM 被锁定、用户只能通过扫描一个适当的值到 AJSM 模块的"通过扫描解锁"寄存器来解锁。 在没有解锁密钥的情况下、器件将不会在测试模式下处于非安全状态。