[参考译文] TMS570LC4357：错误检测的 PBIST 和 STC 模块可靠性

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Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357, HALCOGEN

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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/926081/tms570lc4357-pbist-and-stc-module-reliability-on-error-detection

器件型号：TMS570LC4357
主题中讨论的其他器件： HALCOGEN

大家好、团队、

我们在其中一个程序中使用 TMS570LC4357控制器、并使用 PBIST 和 STC 模块执行自检。我们已经看到了由 HALCOGEN 生成的 PBIST 自检和 STC 自检代码来测试这些模块。是否有任何方法可以知道在 PBIST 和 STC 模块上进行的这些测试能够按预期工作来检测实际故障？

请求在这些上下文中提供您的输入。

谢谢、

Kalyan

5 年多前

0 admin 5 年多前

TI__Guru**** 2481465 points

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Kalyan、

没有方法在被测试的存储器或逻辑中引起一个真正的硬故障。从这个意义上讲、TRM/Safety 手册介绍了验证这些自检机制故障检测功能的方法。这些方法依赖于在自检期间使用一个非真正硬故障的方法来引入一个故障。

希望这对您有所帮助。

0 admin 5 年多前

TI__Guru**** 2481465 points

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您好、Sunil、

感谢您的快速响应。

此致、

Kalyan

基于 Arm 的微控制器（参考译文帖）

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