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[参考译文] TMS570LS3137:N2HET

Guru**** 2524550 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/924029/tms570ls3137-n2het

器件型号:TMS570LS3137

您好!

根据3137 TRM、

如果我们使用两条指令、使用 hr_lr =高电平、那么测量 Tperiod 时可能会出现什么误差、如下所示。 我认为这与 TRM 建议不符、但我有一个限制、不能更改此代码。

;Ton
test_ton  PCNT{hr_LR=high、reqnum=1、request=GENREQ、type=RISe2FALL、PIN=TEST_PIN};

;期间
TEST_TP  PCNT{hr_LR=high、reqnum=1、request=GENREQ、type=RISe2RISE、pin=test_PIN};

谢谢

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    每个高分辨率引脚只允许一条指令使用高分辨率。 要超过此限制、您可以使用 HR 共享、但第2个 PCNT 中的引脚编号应为 TEST_PIN + 1、TEST_PIN 必须为偶数。

    您的代码仍然有效、但第二条 PCNT 指令被高分辨率忽略。 最大测量误差高达 LRP (环路分辨率周期)。