[参考译文] TMS570LC4357：CAN ECC 单位自检将 DEFLG 而非 CAN ECC CS 寄存器中的 SEFLG 进行设置

您好、Cameron、

我最近遇到了一个类似的问题、请验证我在以下主题中的答案。

(10) TMS570LC4357：将单位错误注入 CAN-RAM 时出现双位错误(ESM 1.73和1.21)-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛

并在上一主题中验证以下答案。

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谢谢。此致、
Jagadish。

感谢您的快速回复、Jagadish。 很抱歉、由于该主题已关闭、我无法验证您对该主题的回答。

我回顾了您提供的示例代码、 它看起来与我正在执行的操作相同、但在 生成单个位错误时、我仍然看到 DEFLG 的频率略高于 SEFLG。 还有其他建议吗？

谢谢！

您好、Cameron、

不应在调试模式下执行该测试、因为在调试/暂停模式和 RDA 模式下、消息 RAM 表示不同。 为了执行此测试、我们已使用 RDA 模式。因此、如果我们在调试模式下执行测试、内存表示会在两种模式之间改变、因此可能生成更多 RAM 错误(包括单一位错误和双位错误)。

因此、为了在没有任何问题的情况下执行该测试、我在执行测试后将测试状态发送给 SCI

我的测试代码中的 SCI 输出总共包含10个字节、其中前4个字节是执行损坏前的字、后4个字节是执行损坏后的字、后两个字节是"ECC 诊断状态寄存器"

如果有两个字节

00 01 -单个位错误

01 00 -双位错误

01 01 01 -单个和双位错误

以下是我在执行 single-bit 错误时获得的输出

下面是我在执行双位错误时获得的输出

您可以  在代码的以下行更改单位和双位错误

这是代码、请仔细检查、

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谢谢。此致、
Jagadish。

感谢您的答复。

我没有在调试模式下运行、而是使用 RDA 进行测试。 我使用表示(uint32) 0x1u 的 CAN_FLIP_DATA_1位破坏数据。 遗憾的是、我仍然经常看到   ECC 诊断状态寄存器中设置了 DEFLG 位而不是 SEFLG 位。

Cameron

您好、Cameron、

您能否附上您的代码？

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谢谢。此致、
Jagadish。

您好、Cameron、

我把代码附上正确、您有机会查看一下吗？  

您的代码与我的代码相同、或者代码与之没有任何变化。

如果可能、您可以使用我的代码进行测试、或者对我的代码进行必要的修改并告诉我吗？

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谢谢  

我能够 按如下方式稍微修改您的 sl_SelfTest_can()函数并在我的代码中进行测试。 我稍后检查了它们的值、而不是清除 ECC_CS 和 ECCDIAG_STAT 中的错误、因此我能够验证我仍然看到 DEFLG (位8)而非 SEFLG (位0)被置位了超过 ECC_CS 和 ECCDIAG_STAT 中一半的时间。

我使用0级寄存器优化和无优化配置对其进行了测试、结果相同。

另外，我注意到，您的代码将 msgNo 定义为1U，而我将其定义为2U。 我尝试了你的函数 两种方式、仍然看到 DEFLG 被标记的频率高于 SEFLG。

有什么建议吗？

谢谢。

Cameron

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布尔 SL_SelfTest_CAN2 (SL_DCAN_Instance SL_DCAN_Instance)
｛
易失性 UINT32*数据；
寄存器 UINT32 ramread32；
uint32 dataVal；
volatile 布尔值 testPassed =0；

if (SL_DCAN_Instance == SL_DCAN1)
｛
sl_canREG = canREG1；
dcanRAMBase =(UINT32 *)&canRAM1；
}

data =(volatile UINT32 *)((((UINT32) dcanRAMBase)+(msgNo*0x20u))；
数据= DATA++；

/*禁用 SECDED -在 CANCTL 中写入 PMD */
BF_SET (SL_CANREG->CTL、CAN_CTRL_SECDED_DIS、CAN_CTRL_SECDED_START、CAN_CTRL_SECDED_LENGTH)；

/*设置测试位以启用测试模式(选择测试模式- RDA 时需要)*/
BIT_SET (SL_CANREG->CTL、BIT (CAN_CTRL_TEST_EN)；

/*设置 Init 位(进入软件初始化模式)并避免与消息处理器发生冲突
*进入 RDA mode 前需要执行此步骤*/
bit_set (sl_canREG->CTL、bit (CAN_CTRL_init))；

/*启用 RAM 直接访问(RDA)*/
BIT_SET (SL_CANREG->TEST、BIT (CAN_TEST_RDA_EN)；

/*备份数据存储在此位置*/
dataVal =*数据；
//sciSendByte (sciREG1、(uint8_t)(*数据>>>24)；
//sciSendByte (sciREG1、(uint8_t)(*数据>>>16)；
//sciSendByte (sciREG1、(uint8_t)(*数据>>>8)；
//sciSendByte (sciREG1、(uint8_t)* data)；

/*启用 SECDED 诊断模式*/
bf_set (sl_canREG->ECCDIAG、CAN_ECCDIAG_SECDED_EN、0、4)；

/*启用 ECC single-bit 错误事件*/
bf_set (sl_canREG->ECC_CS、CAN_ECC_CS_SBE_EVT_EN、CAN_ECC_CS_SBE_EVT_START、CAN_ECC_CS_SBE_EVT_LENGTH)；

/*损坏数据*/
*data ^= CAN_FLIP_DATA_2BIT;

/*启用 SECDED */
BF_SET (SL_CANREG->CTL、CAN_CTRL_SECDED_EN、CAN_CTRL_SECDED_START、CAN_CTRL_SECDED_LENGTH)；

//(void) sl_FLAG_SET (testType)；

/*创建错误*/
ramread32 =*数据；
//sciSendByte (sciREG1、(uint8_t)(*数据>>>24)；
//sciSendByte (sciREG1、(uint8_t)(*数据>>>16)；
//sciSendByte (sciREG1、(uint8_t)(*数据>>>8)；
//sciSendByte (sciREG1、(uint8_t)* data)；

//sciSendByte (sciREG1、(uint8_t)(SL_canREG->ECCDIAG_STAT>>8)；
//sciSendByte (sciREG1、(uint8_t) sl_canREG->ECCDIAG_STAT)；

if (GET_ESM_BIT_NUM (ESM_G1ERR_CAN1_ECC_SBERR)==
(esmREG->SR7[0]和 GET_ESM_BIT_NUM (ESM_G1ERR_CAN1_ECC_SBERR)){
testPassed = true；
/*清除 ESM 错误状态*/
esmREG->SR7[0]|= GET_ESM_BIT_NUM (ESM_G1ERR_CAN1_ECC_SBERR)；
}

if (GET_ESM_BIT_NUM (ESM_G1ERR_CAN1_ECC_Uncorr)==
(esmREG->SR1[0]和 GET_ESM_BIT_NUM (ESM_G1ERR_CAN1_ECC_Uncorr)){
testPassed = true；
/*清除 ESM 错误状态*/
esmREG->SR1[0]|= GET_ESM_BIT_NUM (ESM_G1ERR_CAN1_ECC_Uncorr)；
}

//添加以下内容以停止优化 ramread32
ramread32 = ramread32；

/*禁用 SECDED -在 CANCTL 中写入 PMD */
BF_SET (SL_CANREG->CTL、CAN_CTRL_SECDED_DIS、CAN_CTRL_SECDED_START、CAN_CTRL_SECDED_LENGTH)；

/CCF MCU sbit 不清除任何 ECC_CS 或 ECCDIAG_STAT 错误状态位
/*清除 single-bit 错误状态*/
//SL_canREG->ECC_CS = BIT (CAN_ECC_SBERR)；
//SL_CANREG->ECCDIAG_STAT =位(CAN_ECC_SBERR)；

/*清除双位错误状态*/
//SL_CANREG->ECC_CS = BIT (CAN_ECC_Uncorr_ERR)；
//SL_CANREG->ECCDIAG_STAT =位(CAN_ECC_Uncorr_ERR)；

/*禁用 SECDED -在 CANCTL 中写入 PMD */
BF_SET (SL_CANREG->CTL、CAN_CTRL_SECDED_DIS、CAN_CTRL_SECDED_START、CAN_CTRL_SECDED_LENGTH)；
/*恢复数据；在其它情况下，应自动更正数据。 */
*data = dataVal ;
/*启用 SECDED */
BF_SET (SL_CANREG->CTL、CAN_CTRL_SECDED_EN、CAN_CTRL_SECDED_START、CAN_CTRL_SECDED_LENGTH)；

/*禁用诊断模式*/
BF_SET (SL_CANREG->ECCDIAG、CAN_ECCDIAG_SECDED_DIS、0、4)；
/*禁用 RAM 直接访问(RDA)*/
BIT_CLEAR (SL_CANREG->TEST、BIT (CAN_TEST_RDA_EN)；

返回测试已通过；

}

您好！

上周我在度假、我来验证您的代码并退款。

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谢谢。此致、
Jagadish。

您好、Cameron、

我上周在度假、所以没有机会查看您的代码。 我现在开始验证、并很快提供更新。

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谢谢。此致、
Jagadish。

您好、Cameron、

Unknown 说：

我没有在调试模式下运行，而我使用 RDA 进行测试

如何验证错误标志(SEFLG 和 DEFLG )位、我可以看到您的代码没有正确使用任何串行打印选项？因此、您必须 正确验证调试模式下的标志状态？  

您能否尝试创建 can_flip_data_1位并通过 SCI 通信发送错误标志？

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谢谢。此致、
Jagadish。

实际上、在运行上述代码后、我将使用 SCI 发送包含 ECC_CS 和 ECCDIAG_STAT 内容的串行输出。 他们继续显示经常设置 DEFLG 而不是 SEFLG。

您好、Cameron、

因此、您的意思是、即使您使用  CAN_FLIP_DATA_1bit 翻转一位、也会收到"DEFLG"错误吗？

在调用测试函数的地方、还有一件事是在 while (1)内部调用、还是在调用 while (1)外部调用 、如下所示。

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谢谢。此致、
Jagadish。

正确、我使用 CAN_FLIP_DATA_1位(等于1)翻转单个位、并且我不调用 while 环路内的测试函数。

您好、Cameron、

我可以看到您提到的问题、对于它正在发生的一些问题。 在提供更新之前、让我在内部团队中进一步调试并与进行讨论。

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谢谢。此致、
Jagadish。

您好、Cameron、

内部团队说、如果我们更改数据位、它也可能更改这两个 ECC 位。 因此、我们应检查观察到的其他更改位是否为 ECC。

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谢谢。此致、
Jagadish。

Jagadish、您好！

我已经确保测试期间数据中只有位0被改变。 我收集了几项试验的数据以如下所示，  在每次试验之间循环能量。

试验1：

ECC_CS：DEFLG 未被置位。 SEFLG 也被置位。

ECCDIAG_STAT：DEFLG 未被置位。 SEFLG 也被置位。

损坏前的数据备份(dataVal ): 5b3dff5d.

损坏后的数据(ramread32)：5b3dff5c

试验2：

ECC_CS： DEFLG 已置位。 SEFLG 未被置位。

ECCDIAG_STAT：DEFLG 被置位。 SEFLG 未被置位。

损坏前的数据备份(dataVal ): 593dff5d.

损坏后的数据(ramread32)：593dff5c

试验 3：

ECC_CS： DEFLG 已置位。 SEFLG  未被 置位。

ECCDIAG_STAT：DEFLG 被置位。 SEFLG  未被 置位。

损坏前的数据备份(dataVal ): 533dff5d.

损坏后的数据(ramread32)：533dff5c

试验 4：

ECC_CS： DEFLG 未被 置位。 SEFLG  也被置位。

ECCDIAG_STAT：DEFLG 未被 置位。 SEFLG  也被置位。

损坏前的数据备份(dataVal ): 533dff5d.

损坏后的数据(ramread32)：533dff5c

试验 5：

ECC_CS： DEFLG 已 置位。 SEFLG 未被 置位。

ECCDIAG_STAT：DEFLG 被 置位。 SEFLG 未被 置位。

损坏前的数据备份(dataVal ): 791dfe5d.

损坏后的数据(ramread32)： 791dfe5c

试用 6：

ECC_CS： DEFLG 已 置位。 SEFLG 未被 置位。

ECCDIAG_STAT：DEFLG 被 置位。 SEFLG 未被 置位。

损坏前的数据备份(dataVal ): 733dff5d.

损坏后的数据(ramread32)： 733dff5c

试用 7：

ECC_CS： DEFLG 已 置位。 SEFLG 未被 置位。

ECCDIAG_STAT：DEFLG 被 置位。 SEFLG 未被 置位。

损坏前的数据备份(dataVal ): 593dff5d.

损坏后的数据(ramread32)： 593dff5c

试用 8：

ECC_CS： DEFLG 未被 置位。 SEFLG  也被置位。

ECCDIAG_STAT：DEFLG 未被 置位。 SEFLG  也被置位。

损坏前的数据备份(dataVal ): 513dff5d.

损坏后的数据(ramread32)： 513dff5c

试用 9：

ECC_CS： DEFLG 已 置位。 SEFLG 未被 置位。

ECCDIAG_STAT：DEFLG 被 置位。 SEFLG 未被 置位。

损坏前的数据备份(dataVal ): 513dff5d.

损坏后的数据(ramread32)： 513dff5c

试用 10：

ECC_CS： DEFLG 已 置位。 SEFLG 未被 置位。

ECCDIAG_STAT：DEFLG 被 置位。 SEFLG 未被 置位。

损坏前的数据备份(dataVal ): 5b3dfe5d.

损坏后的数据(ramread32)： 5b3dfe5c

您好、Cameron、

感谢您提供更多数据。 与 DCAN RAM 的 SECDED 完全一致。

请给我一些时间与内部团队进行讨论、然后重新讨论。

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谢谢。此致、
Jagadish。

Jagadish、您好！

有任何更新？

谢谢。

Cameron

您好、Cameron、

很抱歉耽误你的时间、我正在就此联系内部团队。 请预计会有一些延迟。

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谢谢。此致、
Jagadish。

谢谢您告诉我。 感谢您提供的任何帮助。

Cameron

您好、Cameron、

感谢您的耐心等待、我将尽量在本周结束之前获得内部团队的回应、我们可以在本周内解决该问题。

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谢谢。此致、
Jagadish。

您好、Cameron、您好、Jagadish、

我们只是想让您知道、我们看到了 CAN ECC 的类似问题。
在测试 ECC 和删除注入的 ECC 错误时、我们得到的 ESM 1bit 和2bit ESM 错误通常似乎无法正常工作。
为了解决这个问题、我们目前只需要重置2位 erro。 测试完成后、作为清理步骤、我们会自动初始化 CAN-RAM。 (仅在上电期间进行测试)

感谢您的更新、Max。 我想请问您如何实现 CAN RAM 的自动初始化吗？

当然可以。 请注意、在激活 ECC 后和执行测试之前应完成自动初始化。
这不能解决注入1位错误时的2位错误。 至少对我们来说是这样。

再次使用 auto init 仅能在测试完成后清理 CAN RAM。
这就是说,你必须做以下事情:

1.在 MINITGCR 寄存器中启用"全局存储器硬件初始化"(TRM 第2.5.1.21章)
2.设置 MSINENA 寄存器中用于激活 CAN-RAM 中的自动初始化 的位(TRM 第2.5.1.22章)
3等待 MSTCGSTAT 寄存器中的 MINIDONE 位被置位 (TRM 第2.5.1.23章)
4.开启自动初始化功能

TRM 2.2.4.2中介绍了该序列。您需要使用表2-7来确定要设置的位