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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1212599/rm57l843-why-does-diagnostic-library-for-r5f-device-lack-many-functions-compared-to-r4f-device
您好！
我们需要使用 TI 诊断库来测试 RM57L843芯片、但与 R4F 器件相比、诊断库提供的测试项目很少。
为什么会这样呢？ R5F 器件是否需要这么多的软件测试？ 谢谢。
您好、Shenruming、
已着手解决您的问题、我们将很快提供更新。
--
谢谢。此致、 Jagadish。
我正在就此问题与 QJ 联系、但我尚未从 QJ 获得反馈。 一旦我收到反馈、我就会告诉您。
您好 Jagadish：
此主题有任何更新吗？ 对我们来说是紧急的。
很抱歉耽误了时间、
重新分配给 QJ。
SRAM_ECC_ERROR_CHRING_1BIT (用于 R5或 R4)和 SRAM_ECC_1BIT_FAULT_INJECT (用于 R4)是相同的测试。
和
SRAM_ECC_ERROR_FORMATCHING_2BIT (用于 R5或 R4)和 SRAM_ECC_2BIT_FAULT_INject (用于 R4)也是相同的测试。
对于闪存自检、请找到 RM4x 和 RM57Lx TRM 中定义的测试模式：
RM57Lx：
和 RM4x
