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[参考译文] TMS570LC4357:DCAN ECC 自检

Guru**** 2204280 points
Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1205571/tms570lc4357-dcan-ecc-self-test

器件型号:TMS570LC4357

我正在尝试在 TMS570LC4357的 CAN 模块上运行 ECC 功能的自检。 以下是我将遵循的步骤:

1.启用 SECDED

触发 DCAN SRAM 的硬件初始化

3.禁用 SECDED

4.在 CTL 寄存器中启用测试和初始化

5.在 ECCDIAG 寄存器中启用 ECC 诊断模式

6.启用 RAM 直接访问

7.翻转 CAN ECC 的第一个位

8.在 CTL 寄存器中禁用 INIT 模式

9.启用 SECDED

8.读取 CAN RAM 的开头

几个问题:

这些步骤不会在 ECCDIAG_STAT 寄存器中产生错误。 我有没有错误地执行某个步骤? 我已经尝试写入0xFF1E1020的 ECC 位并读取0xFF1E0020的相应 RAM

2. TI 是否在任何地方提供 ECC 测试? 我看到针对其它 TMS570型号提供了测试、但是针对奇偶校验。