您好支持团队:
在我们当前的项目中、我们要使用带有 ECC 存储器的 AM2432 MCU。 在 MCU_M4FSS 上、我们 使用内部 SRAM (具有 ECC 的256KB IMEM/DMEM)。 现在、我们想要循环测试 ECC 校验器以用于诊断目的。 在 "12.6.4.3.6只注射模式"章节中:
"有些模块已经在其数据路径中执行 ECC 生成和检查。 在这种情况下、如果需要、可将 ECC 包装程序配置为仅注入模式。 在此模式下、ECC 包装程序不执行 ECC 检测和校正。 仅注入模式允许用户注入单个或两位错误、以便测试模块逻辑以用于诊断目的。
注意
没有用于启用仅注入模式的软件控制。 通过打结值来配置它。 仅注入模式和 ECC 模式是互斥的。
互连 ECC 组件还支持错误注入模式。 有用于测试错误检查逻辑(检查器)的错误注入逻辑。'
这是否意味着诊断错误注入不与内部 SRAM 一起工作?
在后续项目中、我们希望使用一个具有2MB SRAM (具有 ECC)和 DDR4 (具有内联 ECC)的 R5F 内核。 诊断错误注入是否在这些 ECC 包装程序上工作?
此致、
Stephan