[参考译文] RM57L843：为什么 DMA RAM SECDED 1位 ECC 错误故障注入和 DMA RAM SECDED 2位 ECC 错误故障注入会生成相同的故障并触发相同的 ESM 组1中断

您好、Shenruming、

我们已着手解决您的问题、并将很快提供更新。

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谢谢。此致、
Jagadish。

您好、Shenruming、

我希望您分别进行了两次测试、我希望您没有在同一个代码中的双位错误后立即执行一位错误？

实际上、对于1位 DMA 错误、应该需要设置 ESM1.82。

您是否检查了两个测试的 ESM1.82状态？

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谢谢。此致、
Jagadish。

Jagadish、您好！

实际上、即使我只是执行 DMA ECC 1位错误强制、它也会触发 ESM1.3。

顺便说一下、另一个紧急情况需要您尽快确认。 它被推迟了几天。

这是关于 STC 测试的、包括 轮询测试"STC1_RUN/STC2_RUN"和错误强制测试"STC1_COMPARE_SELFCHECK/STC2_COMPARE_SELFCHECK"。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1220677/rm57l843-please-provide-the-example-test-code-for-rm57lx-lbist-test/4628913?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=%252525252520user%25252525253A544303#4628913

您好、Shenruming、

Unknown 说：

事实上，即使我只是执行 DMA ECC 1位错误强制，也会触发 ESM1.3。

好的、让我在结束时进行测试、然后再提供有关这方面的进一步更新。

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谢谢。

Jagadish。

您好、Shenruming、

我们也观察到类似的 CAN RAM 问题、并且在 激活 ECC 后和运行测试之前添加了 CAN RAM 的自动初始化功能、该问题已得到纠正。

(+) TMS570LC4357：CAN ECC single-bit 自检集 DEFLG 而非 CAN ECC CS 寄存器中的 SEFLG -基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛

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谢谢。此致、
Jagadihs。