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器件型号：TMS570LS1114 尊敬的支持论坛：
我想在100µs μ s 的时间间隔内、使用 MCU 的内部 ADC 测量6个电流。
我希望测量由硬件触发。 此外、我最好将多个测量值存储在存储器中、以便我可以计算最后100µs μ s 期间的平均测量值。
因此具体思路如下：
我需要为不同的信号保留 ADC 存储器的6个字。 然后、我要在100µs 的窗口期间最多测量5次上述6个信号。
因此、我需要30个 字、这些字将全部用于存储6个信号的 ADC 事件组。
20µs 将总转换时间设置为接近100µs μ s、我可以确保我有5个测量值在5 μ s 时间内平均分布。 HW 触发器应为 ETPWM2、其周期为19900ns、以确保所有转换都可以正确完成。
然后、我是否可以假设 AD 事件组的存储器填充在循环缓冲器中？ 那么、如果字30被填充、例如信号6的转换结果、而下一个转换结果、信号1的转换结果、被再次放置在字1的存储器地址上？
然后、我可以直接在存储器中读取结果并计算平均值、以借助5次测量获得最后100µs μ s 期间的平均信号振幅。
转换配置为在由 ETPWM 触发的单次转换中运行、基本上成为连续转换。 A
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塞巴斯蒂安
