[参考译文] TMS570LC4357：闪存 ECC 故障检测

尊敬的 Txema：

我想验证您的代码。

您甚至可以通过压缩您的整个项目来向我发送私人消息、以便我可以轻松调试您的问题？

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谢谢。此致、
Jagadish。  

你好、Jagadish。

很显然、我无法向您发送我的完整代码。 您能告诉我您想要检查的具体内容吗？

故障注入通过 Code Composer 链接器选项来完成。

然后代码只查找 ESM 寄存器的状态来标记任何出现的情况、以便可以通过遥测报告。

错误的 ECC 注入是在名为"Bsp_1Hz"的函数中完成的、因此每秒都会检测一次故障。

您是否知道为什么不同的掩模会产生如此不同的结果？ 为什么翻转位0和1 (屏蔽0x03)在 ESM 模块中被标记为组2通道3故障(闪存 ECC)、但是翻转位4和5 (屏蔽0x30)会产生 DABORT？ 这种行为与我的代码完全无关。

谢谢你。

尊敬的 Txema：

很抱歉耽误了时间、

根据您提到的问题、我需要一些时间来创建项目、在我创建项目后、我将对您进行调试和更新。

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谢谢。此致、
Jagadish。

你好、Jagadish。

听起来很不错、谢谢。

如果它有用、我会重现它：

1) 1)编写一些每次频繁调用函数的代码(例如1秒)

2) 2)在.map 文件中检查该函数的地址

3) 3)配置链接器、以使用不同的掩码(如我的消息中所述)在该地址注入 ECC 错误

4)在 dabort()函数中设置一个断点，这样你就知道它是否被调用了。

5) 5)在1s 函数中设置一个断点、以便可以触发故障步进执行

6) 6)通过调试器读取 ESM 模块的状态

谢谢你。

尊敬的 Txema：

请参阅 器件 TRM 第344页的综合征表。

您好、Wang。

是的,我看到了那个表,但我不知道如何解释它:

1."出错的位可以是64个数据位中的一个位、也可以是8个 ECC 校验位中的一个位"->这64位数据是什么？ 8个 ECC 校验位在表中的什么位置？

2.表7-3将8位故障分解为4个动作：E0x、Dxx、D 和 M。前两个可校正，而 D 和 M 不可校正。

3、我不知道故障注入中使用的"掩模"和这个表的关系

4.我也不知道为什么 ECC 有时会标记错误,有时不会,有时会调用 DABORT

您能帮助我理解这些问题吗、以便我能够关闭因果关系循环吗？

非常感谢。

Unknown 说：

1."出错的位可以是64个数据位中的一位，也可以是8个 ECC 检查位中的一位"->这64位数据是什么？ 表中的哪里是8个 ECC 校验位？

如果 ECC[0]发生翻转，则故障表格的 cell[0，1]的值=E00 -->单位 ECC 错误。 读取这些寄存器时、系统会检测并纠正

如果 ECC 翻转位为0x1A、则故障表的 ECC[1]、a 的值= D22 -->单位数据错误、读取时将校正

Unknown 说：

2. 表7-3将8位故障与4个操作相关：E0x、Dxx、D 和 M。前两个可校正、而 D 和 M 不是[/引号]

TRM 中的表7-3不正确(对于小端字节序)。 请使用 TMS570LS3137 TRM 中的表。 正确：D 不可纠正，但可检测。 M 表示不可检测且不可纠正。

Unknown 说：

3. 我不知道故障注入中使用的"掩码"与此表的关系[/引号]

屏蔽值是正确的 ECC 值和损坏的 ECC 值的 XOR 结果。 您可以使用该值来查找综合征表中的电池值。

例如、如果 MASK = XY (十六进制值)、则综合征表中 cell (row y、colx)的值指示错误是否可纠正。

Unknown 说：

4. 我也不知道为什么 ECC 有时会标记错误,有时会标记错误,有时会调用 DABORT

[/quote]

请使用闪存模块寄存器(FMC_ECC)在诊断模式7中注入 ECC/数据故障。 我尚未尝试使用链接器注入 ECC 错误。

[/quote][/quote]