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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1344420/am2634-q1-how-to-do-adc-calibration-for-am2634
您好！
我已经阅读了有关校准的主题、 https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1136134/am2634-q1-am263x-adc-calibration-question
修整数据似乎在 MCU 上仍然不可用、我在 ADC ADCINLTRIM1-6中看不到任何值、它们都是0。
在本例中、我们如何校准 ADC？
在最新的 TRM 中、删除了 ADC 校准部分。 能否指出我在哪里可以找到 AM2634的此类信息？
谢谢
尊敬的 Phoenix：
该部分已删除、因为它包含的信息实际上并不适用于 AM2634器件、因为我们不会将任何数据存储在 ADC 调整寄存器中。
Unknown 说：在这种情况下、我们该如何校准 ADC？ [/报价] 我的理解是、 ADC_CAL0和 ADC_CAL1引脚将用于校准、但我要让另一位专家来对此做进一步的评论。 此致、 拉尔夫·雅各比
我的理解是、 ADC_CAL0和 ADC_CAL1引脚将用于校准、但我要让另一位专家来对此做进一步的评论。
此致、
拉尔夫·雅各比
尊敬的 Ralph：
感谢您的答复。
是的、我正在寻找具有 CAL0和 CAL1的 ADC 校准程序、请对此进行更多说明。
我们 现在正在调查您的问题、并将在接下来的两天内向您提供一些反馈。
谢谢！
扎卡里·弗莱诺
尊敬的 Zackary：
现在有任何反馈可用吗？
很抱歉耽误你的时间。 提供以下初始反馈。 我们计划创建一个应用手册来更好地描述该过程。
Sri Gunturi 关于此参考线程的回答总结了同样的想法： https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1136134/am2634-q1-am263x-adc-calibration-question
目的是使用 ADC_CALx 引脚实现该目的。 它们是所有 ADC 的通用输入、因此您可以使用它们来消除/校准器件中 ADC 与 ADC 的差异、并校准所有 ADC 与外部源信号。
1) 1)从动态/静态信号源进行测量
2) 2)使用 ADC_CAL 引脚测量精密系统基准
3) 3)从系统中消除所有直流误差、
4) 4)校准每个 ADC 的增益、
5) Re -获取动态/静态信号源的测量,并比较每个 ADC 之间的距离和校准后的参考信号. 做同样的事情、以展示温度变化会如何影响这一点、以及如何进行考虑运行时变化的定期校准等。
或者、如果 ADC_CALx 引脚不存在、则需要在 PCB 上将公共信号路由到每个 ADC、然后牺牲一个输入通道来为您提供该校准功能。
如果需要获得最高性能、则系统内的运行时校准不应依赖这些默认值。 而是测量电流性能。 这将随工作电压、温度和工艺老化的变化而变化。
