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[参考译文] TMDSCNCD263P：测试自动化接头

admin
Guru**** 2387830 points
Other Parts Discussed in Thread: TMDSCNCD263P
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1312487/tmdscncd263p-test-automation-header

器件型号：TMDSCNCD263P

您好！

在 TMDSCNCD263P  EVM 用户指南至部分  2.11.10测试自动化接头、 它被称为" 控制卡支持40引脚测试自动化接头、因此可以使用外部控制器来控制断电、PORz、热复位和引导模式控制等基本操作。

那么我们可以把另一个 AM263P 控制卡或者 AM263X 控制卡连接到这个自动化的头来控制还是建议什么呢？

  • 0
    TI__Guru**** 2387830 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Sudhakar，  

    测试自动化接头的测试设置为 TMDSCNCD263P EVM、40引脚带状电缆和 MSP430 EVM 等外部 MCU 板。  但是、此硬件不供客户使用、在 TI 外部不受支持。

    将来将支持通过 UART 提供测试自动化支持。

    此致、

    布伦南