您好!
我们在锁步模式下使用 AM2632。
这意味着、我们的应用固件运行一个内核(R50-0)并受到锁步内核(R50-1)的监测。
我的问题与 PBIST 内存测试功能有关、因为我不明白详细的 SDK 提示和用户指南说明。
我们的安全目标之一是测试 R50-0的可测试存储器区域。
SDK 中有关于 PBIST 的一些说明:
- PBIST 必须从不同于被测试的内核运行。 这是因为此试验具有破坏性。 因此、在 BIST 测试之后、需要复位模块。
这具体意味着什么? 我们不能从 R50-0测试 R5-0的存储器吗?
是否完全可以具有单核控制器(或锁步模式下的双核)的 PBIST?
SDK 信息如下:

我在 R50-0上尝试了针对 PBIST 的 SDK 示例并且获得了以下端子输出:
PBIST 应用
在顶部 PBIST 上启动 PBIST 故障插入测试
顶部 BIST 的 PBIST 故障插入测试完成
在49微秒内完成 PBIST 故障插入测试
在顶部 PBIST 上启动 PBIST 测试
针对 R5 STC 的 PBIST 完成
R51 STC 的 PBIST 完成
针对 PBISTROM 的 PBIST 完成
针对 CPSW 的 PBIST 完成
针对 ICSSM 的 PBIST 完成
MBOX 的 PBIST 套件
针对 MCAN 完成 PBIST
针对 TPCC 的 PBIST 完成
MSS_L2_1的 PBIST 完成
MSS_L2_2的 PBIST 完成
MSS_L2_3的 PBIST 完成
VIM1 R5SS0的 PBIST 完成
VIM0 R5SS1的 PBIST 完成
VIM1 R5SS1的 PBIST 完成
R5SS1 RAM 的 PBIST 完成
MSS CR5B ATCM0的 PBIST 完成
MSS CR5B ATCM1的 PBIST 完成
MSS CR5B BTCM0的 PBIST 完成
用于 MSS CR5B BTCM1的 PBIST 完成
所有测试均已通过
列出的存储器区域存储器是 R50-0还是 R50-1?
此致、感谢您的努力
乔·肖