[参考译文] TMS570LC4357：诊断 GIO1A/B -它如何工作？

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https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1282050/tms570lc4357-diagnostic-gio1a-b---how-does-it-work

器件型号：TMS570LC4357

尊敬的专家：

我看了看你对我的问题的回答:
TMS570LC4357：GIO1A 和 GIO1B 的实施(内部模拟环回)-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛

查看您在此处发布的代码后：
RM48L952：IO 环回诊断-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛
我有几个问题。

读取 DIN 寄存器中相应引脚的位即可开始测试：

txdata = SL_gioGetBit(sl_gioPORT, pin);

我不明白这一行的目的是什么。永远不会使用存储在 rxdata 中的值：

rxdata = txdata;

已读取的位被翻转并写入 DSET 或 DCLEAR (取决于该值)。我假设这样做是为了强制改变引脚状态：

txdata ^= (uint32)0x1U;

/* set txdata on the pin */
SL_gioSetBit(sl_gioPORT, pin, txdata);

在引脚更改 DIN 寄存器后、回读并与通过 DSET/DCLEAR 写入 DOUT 的值进行比较：

/* read back the value */
rxdata = SL_gioGetBit(sl_gioPORT, pin);

/* compare values */
if(rxdata == txdata)
{
    retVal = TRUE;
}
else
{
    retVal = FALSE;
}

根据我的理解、该测试只能向 DOUT 写入值、然后检查 DIN 是否反映 DOUT。是这样吗？

谢谢、此致、
最大值

2 年多前

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 2430620 points

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您好、Max：

我已开始处理您的问题、并将尽快提供更新。

谢谢。此致、
Jagadish。

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 2430620 points

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您好、Max：

很抱歉我的答复出现延误。

Unknown 说：
根据我的理解、该测试只能向 DOUT 写入一个值、然后检查 DIN 是否镜像了 DOUT。这是否正确？

是的、这是正确的。在此测试中、我们将通过写入不同的值和回读相同值来测试 GIO 的信号路径。

如果 GIO 的信号路径中存在任何问题、我们可能无法读取写入路径中的值、这表示 GIO 信号路径故障。这看起来可能很简单、但它验证了完整路径(如模拟环回)、DIN 上的回读值并不仅仅是我们写入的值、而是根据该引脚上存在的引脚值计算得出的值。

我的意思是、例如假设引脚对地短路、并且我使用 DSET 寄存器写入逻辑高电平、但读取 DIN 寄存器后、我没有获得逻辑高电平、因为引脚对地短路后、引脚值将为逻辑零。因此、在本例中、我们的 GIO 模拟出现故障并指示发生了故障。所以、这个测试看起来简单但是非常有效、并且测试了完整的 GIO 路径。

谢谢。此致、
Jagadish。

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 2430620 points

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Jagadish、您好！

这意味着、对于电容性负载、我们会在将 DOUT 设置为正确后延迟 DIN 的回读？

谢谢、此致、
最大值

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 2430620 points

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Unknown 说：
这意味着在容性负载情况下，我们会在将 DOUT 设置为正确时延迟 DIN 回读？

您说得对、容性负载将延迟回读。

谢谢。此致、
Jagadish。

基于 Arm 的微控制器（参考译文帖）

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[参考译文] TMS570LC4357：诊断 GIO1A/B -它如何工作？