This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] AM2431:在何处查找 AM243x 的 BIST 文档?

Guru**** 2747405 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1282114/am2431-where-to-find-documentation-on-the-bists-of-am243x

器件型号:AM2431

您好!

在哪里可以找到有关 AM243x 的 BIST 的详细说明、尤其是可在 R5F CPU 及其存储器上执行的 BIST? 如何调用,副作用,哪些参数,块大小,..? 我尝试了 AM243x 的 TRM。 这里引用了一些 BIST 寄存器、但没有特殊说明。

谁可以帮助我? 谢谢

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的弗里德里希:

    BIST 是 AM243x MCU+ SDK 09.00.00.35中 SDL (软件诊断库)的一部分。 有关详细信息、请参阅以下 URL:

    AM243x MCU+ SDK:PBIST (TI.com)

     C:\ti\mcu_plus_sdk_am243x_09_00_00_35\examples\sdl\pbist\pbist_mpu 下有一个 BIST 示例

    此致、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    阅读 AM243x MCU+ SDK V9中有关 SDL 和 BIST 的文档后、我了解以下内容:

    BIST 按这种方式设计、通常在启动期间在复位后执行。

    BIST 必须由与被测试实例不同的实例启动、因此如果应测试 R5F 内核、则该测试可由 C4M 实例完成。

    BIST 会检查内核(在本例中为 e.R5F)以及存储器的一些内部功能。 经过测试后、它们返回并提供正负极结果。

    也可以在 R5F 内核上运行的应用程序期间启动 BIST、但这需要使应用进入已知状态、因为测试是破坏性的。 尚不清楚在此测试过程中是否销毁了存储器内容。 如果在运行应用程序期间使用此程序(例如在两个现场总线周期之间)、则不清楚应保存什么内容以及应重新安装什么内容。 不清楚测试需要在什么时间执行。

    目前尚不了解是否可以将 BIST 仅限于测试内核或存储器的部分以及如何进行测试。

    在 SDL 中、我们可以看到有一些 ECC 和 MCRC 可能性、但这些可能性与任何像 Galpat 或类似的内存测试都是不可比拟的。

    如果我理解错了、请更正我。

    Rgds

    弗里德里希

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的弗里德里希:

    您对 BIST 的理解基本是正确的、但 BIST 测试可以由要运行的测试的实例和类型触发:

    BIST 主要用于检测控制逻辑或存储器中的永久性错误。

    另一方面、ECC 更多地设计用于检测特定器件的随机错误、例如 DDR、闪存等。

    此致、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    明伟早上好。

    是否有任何文档记录表明 BIST 花费了多长时间? 如何进行环境保存和恢复,是否有与此相关的文档?

    Rgds

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的弗里德里希:

    很遗憾、我没有 BIST 所需时间的任何文档。

    此致、