您好!
在哪里可以找到有关 AM243x 的 BIST 的详细说明、尤其是可在 R5F CPU 及其存储器上执行的 BIST? 如何调用,副作用,哪些参数,块大小,..? 我尝试了 AM243x 的 TRM。 这里引用了一些 BIST 寄存器、但没有特殊说明。
谁可以帮助我? 谢谢
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您好!
在哪里可以找到有关 AM243x 的 BIST 的详细说明、尤其是可在 R5F CPU 及其存储器上执行的 BIST? 如何调用,副作用,哪些参数,块大小,..? 我尝试了 AM243x 的 TRM。 这里引用了一些 BIST 寄存器、但没有特殊说明。
谁可以帮助我? 谢谢
尊敬的弗里德里希:
BIST 是 AM243x MCU+ SDK 09.00.00.35中 SDL (软件诊断库)的一部分。 有关详细信息、请参阅以下 URL:
AM243x MCU+ SDK:PBIST (TI.com)
C:\ti\mcu_plus_sdk_am243x_09_00_00_35\examples\sdl\pbist\pbist_mpu 下有一个 BIST 示例
此致、
明
阅读 AM243x MCU+ SDK V9中有关 SDL 和 BIST 的文档后、我了解以下内容:
BIST 按这种方式设计、通常在启动期间在复位后执行。
BIST 必须由与被测试实例不同的实例启动、因此如果应测试 R5F 内核、则该测试可由 C4M 实例完成。
BIST 会检查内核(在本例中为 e.R5F)以及存储器的一些内部功能。 经过测试后、它们返回并提供正负极结果。
也可以在 R5F 内核上运行的应用程序期间启动 BIST、但这需要使应用进入已知状态、因为测试是破坏性的。 尚不清楚在此测试过程中是否销毁了存储器内容。 如果在运行应用程序期间使用此程序(例如在两个现场总线周期之间)、则不清楚应保存什么内容以及应重新安装什么内容。 不清楚测试需要在什么时间执行。
目前尚不了解是否可以将 BIST 仅限于测试内核或存储器的部分以及如何进行测试。
在 SDL 中、我们可以看到有一些 ECC 和 MCRC 可能性、但这些可能性与任何像 Galpat 或类似的内存测试都是不可比拟的。
如果我理解错了、请更正我。
Rgds
弗里德里希