[参考译文] TMS470MF06607：CCS Code Composer Studio 错误：无法访问器件寄存器

尊敬的 Laurent：

 -您能否检查电路板的正确焊接和助焊剂是否有牢固的粘结。 可以清除 JTAG 引脚吗？

 -在 CCS 中,您可以对 XDS200执行 JTAG 扫描链测试。 结果是什么？

 -您是否仍看到有任何引脚正在按加载到可疑 MCU 的应用固件进行切换? 或者 MCU 上不再有任何活动。  

 -您是否仍然有适当的电源给故障的电路?

 -你是否有时钟到故障的电路?

 -可以在板上的两个 MCU 之间进行 ABA 交换吗? 移动到良好端后、可疑的 MCU 是否会继续失效？ 移至可疑侧后、良好的 MCU 是否会继续工作？

为  A-B-A  交换方法是一种简单的交叉检查测试、可以确认发现的问题不是系统性问题。

• A-B-A  交换方法
  (1)拆除可疑部件( A )。
  (2)更换可疑部件( A )、具有已知良好的组件( B )并检查原电路板现在是否工作正常。
  (3)安装可疑部件( A )连接到已知正常的主板，然后查看是否在正常的主板上发生同样的故障。

步骤3很重要、因为它可以帮助我们排除任何可能问题是由系统问题或良好电路板上的多个轻微不良元件相互作用引起的。

尊敬的 Charles：

感谢您联系我们、请按顺序查看对您的问题的答复。

- PCB 已按照 IPC 标准进行焊接和检查,两个电路上的 JTAG 引脚/连接器接头都是干净的。

-很遗憾、我们没有在 CCS 上执行这个特定的测试、现在已将 MCU 换成了一个有效的测试。 但我们通过 对其他电路编程确定了 JTAG 链在两个电路上的工作早期、并在故障显现时对另一个电路进行编程。 我们还尝试使用 Uniflash 对故障的 MCU 进行编程、但也失败了。

-有故障的 MCU 上没有活动,没有运行代码。

-是的,两个电路都由同一电源供电,所有工作正常。

-是的时钟出现了。

- 有故障的 MCU 被移除,并与第三个工作的 MCU 交换,代码加载相同的 JTAG 设置。 故障 MCU 现已隔离、我们希望避免篡改 MCU。

我们/TI 是否有不同于 CCS 或 Uniflash 的工具可以用于测试这个发生故障的 MCU？ 我们务必要全面了解故障机制。

非常感谢、

劳伦特

尊敬的 Laurent：

  我认为这是 MCU 问题、但我不知道是什么导致 MCU 死机。

 -在问题发生之前,您成功使用了有故障的 MCU 多长时间?  

 -您可以在针脚上进行电阻检查吗? 器件是否短路？

 -您是否记得您尝试对器件进行编程时可能发生的 EOS (电气过载)事件(例如 ESD、高电流、高电压)？

 目前、我倾向于认为 MCU 由于 EOS 事件而出现故障。  

尊敬的 Charles：

很抱歉我的回复太晚了、我想更早回复、但 TI 论坛因维护原因宕机。

回答您的问题：

-该设备经过多次重新编程(在10秒,而不是100秒)
-使用万用表将阻抗与相同电路进行比较,没有检测到 JTAG 阻抗与 GND 或3V3的差异。
-否,未注明 EOS。

请注意、我们的测试台/测试区遵循 ESD 管理方面的最佳实践、并且 MCU 在在此之前已成功地进行编程、因此未进行任何设置更改。

是否有办法在 MCU 技术调查方面从 TI 获得进一步支持？ 您接下来会有什么建议？

谢谢。
劳伦特