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[参考译文] TMS570LC4357-TMS570LC4357 EP:刷写代码时出错

Guru**** 2392495 points
Other Parts Discussed in Thread: TMDSEMU200-U

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1254182/tms570lc4357-ep-error-in-flashing-the-code

器件型号:EP
主题中讨论的其他器件:TMDSEMU200-U

我们尝试使用  XDS200调试探针 TMDSEMU200-U 来刷写代码、链接在 这里、而在编程时、我们得到如下错误  

连接到目标时出错:

(ERROR-1170@0x0)

无法访问 DAP、复位器件并重试操作、如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板下电上电、和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如降低 TCLK)

(仿真软件包9.12.0.00150)并附加了屏幕截图。

是否有人地址并帮助解决错误...?

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    Karthik、您好、

    我将关闭此线程、因为它与下面的线程是冗余的:

    (+) TMS570LC4357-E2E:对器件进行编程时出现错误-基于的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI EP 支持论坛

    --

    谢谢。此致、
    Jagadish。

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    通过按住 nRST 也会出现相同的错误,尽管已更改控制器 ,但问题仍然存在...

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    Karthik、您好、

    您之前是否曾使用此调试探针进行过编程、或者它在购买之后是否是第一次使用?

    --

    谢谢。此致、
    Jagadish。

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    我们在许多卡中都使用此调试探针...  现在仅使用此探针将相同代码刷写到其他卡中。  调试探针未出现问题。 在这种情况下、我们只会遇到这个问题、

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    Karthik、您好、

    在这种情况下、它应该与 JTAG 相关的硬件电路相关、因此请仔细验证调试电路的所有相关连接和电阻值。

    根据您使用的是哪种卡、它是定制电路板还是任何 TI 特定的电路板?

    --
    谢谢。此致、
    Jagadish。

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    这是一个定制板  、我使用 JTAG 电路进行了检查、所有电阻器都可以。 我连接了 JTAG Ckt 原理图

                   

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    您可以浏览一下此页面吗?  https://software-dl.ti.com/ccs/esd/documents/xdsdebugprobes/emu_xds_target_connection_guide.html#buffered-case

    错误(错误-1170 @ 0x0)是由于 JTAG 调试器无法访问 DAP 或其 ARM 子内核之一引起的。 这通常是由电路板上的硬件故障或 CPU 内核上的无效代码导致的、这些代码会导致器件持续自我复位。

    您是否尝试了较低的 JTAG 速度(TCLK)?  

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    我检查了所有 问题、但问题仍然存在、再次检查了电路也、我有任何人帮助解决了问题

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    Karthik、您好、

    您的电路板上是否使用了 JTAG_SELn? 如果不使用 R347、可以移除它。  

    2MC_TRST 上是否有外部下拉电阻器? 如果没有、可以添加一个、然后重试吗?