[参考译文] TMS570LS3137：HalCoGen ADC 设置

大家好、Aaron：

我想再提一点：

(+) TMS570LS0714：其中一个输入信号的 ADC 采样时间-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛

  配置窗口中显示的 tScan 总量仅适用于  所有 ADC 通道的单次转换、但如果启用连续转换、最后一个通道到第一个通道之间的切换时间也应增加一个。  

因此、根据您的配置、每次切换将需要62.5ns (187.5/3)、所以在连续模式下转换所有通道的总转换将为965.3875+62.5 = 965.4、

但它仍然小于1ms、因此在10ms 时间内、我们理论上应该得到40个样本。 我以前从未在实际中进行过此验证、但我想确保没有出现任何代码错误、因此为了确认这一点、我请求您提供您的代码。 你可以创建一个最简单的项目,并可以通过私人聊天窗口与我分享。

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

感谢您的答复和确认。

我使用专有的 RTOS (我不能分享)进行10ms 的任务调度、我非常确信计时正确。 在任务内、我只需运行以下代码：

adcData_t conversionDataBufferAdc2[40] = {0};
const uint32_t conversionDataCountAdc2 = adcGetData(adcREG2, adcGROUP1, conversionDataBufferAdc2);

检查时、返回的转换计数与预期的40个不匹配、而是大约7或8个样本。 我想知道它是否与 用于控制 ADC FIFO 缓冲区溢出的 OVR_RAM_IGN 位相关。 我在 HalCoGen 配置中找不到控制这个位的任何选项。

您有什么其他想法、这里可能会出错吗？

谢谢。此致、

亚伦

大家好、Aaron：

我正在使用专有 RTOS (我无法分享)进行10ms 的任务调度、并确信时间安排正确。

好的、没问题。

您有什么其他想法可能会造成此处的错误吗？

首先、我想在没有 RTOS 的情况下使用裸机代码在我的板上测试此场景、并想看看我们是否可以获得40个 ADC 样本。 我将尽快更新此文件。

——

谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

感谢您的更新。 我将 BNDB 长度配置为40、所以我认为这也没有问题。

此致、

亚伦

大家好、Aaron：

我将 BNDB 长度配置为40、因此我认为这样也可以。

您的意思是、即使将 BNDB 长度配置为40之后问题仍然存在？

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

抱歉、我的消息不清楚。 我在测试期间正确配置了 BNDB 长度、因此在 BNDB 长度设置为40的情况下问题确实仍然存在。

此致、

亚伦

大家好、Aaron：

我在 LS3137板上创建了一个示例项目、其中 RTI 中断持续10ms、其余配置与您的配置类似、每次都可以获得40个 ADC 样本。

您能否使用您的代码验证此代码和 HALCoGen 设置？

下面是我的完整项目：

e2e.ti.com/.../ADC_5F00_10mS_5F00_40_5F00_Samples_5F00_Issue_5F00_LS3137.zip

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谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

感谢您的示例项目、它确实能按预期工作。

这让我对项目中使用的 RTOS 的配置提出了疑问、并发现任务时序不正确... 修复了这个问题、现在我在10ms 的周期内得到40个样本。

感谢您的支持和帮助我找到此问题！
此致、

亚伦