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[参考译文] TMDSEMU110-U:易失性证书

Guru**** 1794070 points
Other Parts Discussed in Thread: TMDSEMU110-U
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1394755/tmdsemu110-u-certificate-of-volatility

器件型号:TMDSEMU110-U

工具与软件:

您能否提供器件型号 TMDSEMU110-U 的易失性证书?

XDS110 JTAG 调试探针

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    您好!

    很难为 XDS110提供一个波动性声明。

    XDS110的功能是将传入的数据存储在 RAM 中、然后将该数据发送到目标器件。  

    RAM 中的任何程序数据都将通过下电上电来擦除。

    此致、

    Ben Collier

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    是的、我知道它不会保留任何内存。 我需要 COV 用于分类实验目的。 你说你不能给我一个 COV 吗? 我需要一份来自德州仪器(TI)的 COV、用于说明您提到的 RAM 存储器的相关内容。  

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    Michael、

    我们已经对此进行了一些内部讨论。  TMDSEMU110-U 中具有非易失性存储器的器件如下:

    • Microchip USB3300 (不确定其中的非易失性存储器)
    • TM4C1294NCPDTI3
    • MSP430G2452IRSA16R

    我建议您获取这些器件的波动性声明。 请为每个 TI 器件发布单独的 E2E 主题。

    此致、
    Ben Collier