This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
工具与软件:
大家好、我要检查最短采样时间以获得最佳高分辨率 A/D 源、并且遇到了有关 TI 文档的一些信息的问题。
第一个问题是、建立误差时间参数是什么? 显示了与此相关的唯一细节:温度传感器稳定误差时间;对于其他类型的通用 A/D 输入?
第二个问题是、硬件设计指南中有一种不同的方法、如下所示:
这种方法不同、稳定误差会改变、并用作固定值(顺便说一下、这与10us 的温度稳定误差不匹配)。
有人可以帮助我了解以下哪个方程是最佳方法、以及为什么存在这些差异?
大家好、 RNJ
? ?? 说:第一个问题是什么是建立错误时间参数?
它是一个误差参数、我们可以使用0.1%或0.01 = 1%。
您可以使用此 Excel 文件计算最小 采样时间。
e2e.ti.com/.../ADCTsampleCalculation.xlsx
[quote userid="129882" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1405790/mspm0g1507-mspm0-adc-time-sampling 谁能帮我理解以下哪个方程是最好的方法以及为什么会有这些差异?第一种方法是使用 稳定误差进行计算、而第二种方法是计算无 稳定误差的 n 位转换的最小采样时间。
此致、
Helic