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[参考译文] TMS570LC4357：通过注入错误/故障进行静态上电内置测试(PBIT )测试

admin
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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1421000/tms570lc4357-quiery-on-power-on-built-in-test-pbit-testing-by-injecting-errors-faults

器件型号：TMS570LC4357

工具与软件：

您好！  
 我们已根据 TMS570LC4357产品说明书实施了加电内置测试(PBIT) 、但是、为了对其进行测试、我们没有找到任何与在 PBIT 测试中注入错误或故障以及测试其是否正常运行过程相关的参考文档。  您能提供或指向 有关在所有情况下通过注入错误或故障来测试 PBIT 的文档吗？

此致、
Bharath。