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[参考译文] MSPM0G1107：使用相应的输出端口测试 ADC 输入电路

admin
Guru**** 1996415 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1413965/mspm0g1107-test-the-adc-input-circuit-using-the-respective-output-port

器件型号：MSPM0G1107

工具与软件：

您好！

是否可以检查附件中的图片、并告诉我是否存在执行以下任务的任何限制？

  • 使用"uC_TWIN"作为引脚 PA25/A02上的 ADC 输入、并在~250k 周期内将其设置为输出低电平(0V)或输出高电平(3.3V)~1秒；然后再次设置为模拟输入；
  • 其动机是测试 ADC 在此输入端转换的模拟电压值的合理性；
  • 问题是、由于100nF 的电容 C200将会提供浪涌电流或与电容 C200之间产生浪涌电流、因此输出端口 PA25是否可以承受此数量的测试周期。
  • 注意：VCC_NTC_TWIN = 3.3V；

非常感谢。

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    TI__Guru**** 1996415 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Jose：

    我认为在250k 个周期内、浪涌电流会最终损坏器件引脚。 我不完全确定我是否理解您这里的测试、但是否可以利用 GPIO 的上拉/下拉电阻器来减少这里的电流？

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    TI__Guru**** 1996415 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Dylan、

    感谢您的反馈。 您的建议听起来不错。 我们将尝试一下、然后就解决这个问题了、不会再提出任何问题。