This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TMS570LS1224:安全库中的 SRAM 和闪存 ECC 故障插入 API 不适用。

Guru**** 2044370 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1447567/tms570ls1224-sram-and-flash-ecc-fault-insertion-api-from-safety-lib-doesn-t-work

器件型号:TMS570LS1224

工具与软件:

您好!

我正在调用安全 LIB 函数 sl_SelfTest_SRAM 和 sl_Selconv () Test_Flash、并且预期会调用 abort()函数、但我看到只有在非常快速的会话中插入这些故障时才会调用 abort。

例如、如果我  每2秒调用 sl_SelfTest_SRAM、则不会调用中止、但是如果我将调用 sl_SelfTest_SRAM 的频率增加两次、并且持续几秒、那么我看到调用了中止。

这是预期行为吗? 在首次调用时、我预计 ESM 会出现异常。  

我在这里遗漏了哪些设置。

提前感谢。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    如果您能答复我的问题、我会不胜感激。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Abdul:

    它应该会立即触发中止、我的意思是、即使是单个不可纠正的错误、它也应该会导致中止。

    您是否在端测试不可纠正或可纠正的错误?

    ——
    谢谢、此致、
    Jagadish。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的  Jagadish:

    基本上、我将调用这些函数并挖掘这些函数、我可以看到 ECC 的2位已损坏、数据会被回读。  

     sl_SelfTest_SRAM (SRAM_ECC_2BIT_FAULT_INJECT、TRUE、&SRAM_stResult);

    sl_Sel454.R Test_Flash (FLASH_ECC_TEST_MODE_2BIT_FAULT_INJECT、TRUE、&FIT_FLASH_stResult);

    您能否帮助我了解通过清除 ESM 组3标志是否可以使故障不可纠正?

    谢谢。此致、

    Abdul

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Abdul:

    我对延迟答复表示歉意。 在这段时间里,我一直坚持其他的问题。

    请发送整个项目、以便我可以进行快速调试并验证项目。

    ——
    谢谢、此致、
    Jagadish。