工具与软件:
各位专家、您好!
我们在获得 ECC 功能的诊断以便用于端口 A 和 B 时遇到一些问题
我们按照技术参考手册(第7.7.2.2节)中所述实现了诊断。 我们还查看了安全库(示例函数仅测试端口 A)。
我们尝试了以下内容:
测试函数加载到 RAM 中并从 RAM 中执行、我们将其调用 flashDiagMode7Test (testType、buffer)
当我执行以下操作时:
flashDiagMode7Test (1bitTest、0)// 0 =缓冲区 A 
flashDiagMode7Test (2bitTest、0)// 0 =缓冲区 A 
一切都按预期运行、但如果我像这样添加对端口 B 的测试
flashDiagMode7Test (1bitTest、0)// 0 =缓冲区 A 
flashDiagMode7Test (2bitTest、0)// 0 =缓冲区 A 
flashDiagMode7Test (1bitTest、4)// 0 =缓冲区 B 
flashDiagMode7Test (2bitTest、4)// 0 =缓冲区 B 
或以下内容:
flashDiagMode7Test (1bitTest、0)// 0 =缓冲区 A 
flashDiagMode7Test (1bitTest、4)// 0 =缓冲区 B 
flashDiagMode7Test (2bitTest、0)// 0 =缓冲区 A 
flashDiagMode7Test (2bitTest、4)// 0 =缓冲区 B 
缓冲区 B 测试失败。
通过调用这样的函数、我可以使其中一个缓冲区 B 测试正常工作
flashDiagMode7Test (1bitTest、4)// 0 =缓冲区 B 
flashDiagMode7Test (1bitTest、0)// 0 =缓冲区 A 
flashDiagMode7Test (2bitTest、0)// 0 =缓冲区 A 
flashDiagMode7Test (2bitTest、4)// 0 =缓冲区 B -此处失败 
但第二个缓冲区 B 测试失败。
您能否在末端验证缓冲器 B 可以并且应该被测试、以及它是否正常工作?
 
				 
		 
					 
				







