[参考译文] TMS570LC4357：当尝试对端口 A 和 B 运行诊断模式7以进行1位和2位错误注入时出现问题

尊敬的 Max：

我正在处理您的问题、并将尽快为您提供我的更新。

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谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Max：

您能告诉我您在测试哪个存储器区域吗？ 组0或组1或费用。

您能否共享"flashDiagMode7Test"函数的定义？

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

对于1bit-Test、我们读取地址 0x00000008、对于2Bit Test、我们读取地址 0x00000016。地址应为 Bank-0。

我将 通过个人信息给您发送一个代码示例。

尊敬的 Max：

感谢您的澄清和代码、我会尽快回复您。

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Max：

对于延迟、我深表歉意、因为我不太重视它、而且我还需要创建一个项目来测试花费时间的行为。

我将在接下来的两天内尝试提供我的回复。

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

有任何关于此问题的更新吗？

尊敬的 Max：

我对迟交答复的拖延深表歉意。

今天、我在 TMS570LC4357中创建了一个项目、并针对端口 A 和端口 B 进行了测试 您可以更正未为端口 B 设置的 ESM 标志、给我更多的时间来分析和调试问题。

——

谢谢、此致、
Jagadish。

你好、jagadish、

运行诊断模式5测试、然后为端口 B 运行诊断模式7时。此时会设置端口 B 的 ESM 标志。
这也许会有所帮助。

尊敬的 Max：

我对拖延解决这一问题深表歉意。 我上周在度假。 我将在接下来的两天内尝试通过解决此问题。

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

有更新吗？

尊敬的 Jagadish：

您是否能够找到解决此问题的解决方案？

尊敬的 Max：

Unknown 说：

您是否找到了解决方案？

对于延迟、我们深表歉意、

这个问题需要至少4个小时的工作时间、我需要在这段时间内停止所有其他问题。 所以、无法处理它。

今天或明天我将会工作并提供我的最新情况。

感谢您的耐心。

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Max：

上周五、我花了5个小时来调试这个问题。

我也执行了所有这些步骤、但仍然无法看到端口 B 的 ECC 错误

因此、我想借用更多时间来找出根本原因。

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

我通过运行 DIAGMODE=5 Test、然后测试端口 B、以测试端口 B 1位错误
但之后、我只能再次测试端口 A。

这可能有助于缩小问题的范围。

尊敬的 Jagadish：

有任何相关更新？

尊敬的 Max：

我再次通过执行所有指令来尝试 DIANMODE=7。

您是对的、我真的无法触发端口 B 的 ECC 错误、我只能触发端口 A

我在过去的线程中甚至没有发现任何与此相关的问题、我会尝试与 QJ 讨论一次、他在这些器件方面比我更有经验。

下面是我的代码:

e2e.ti.com/.../FEE_5F00_ECC_5F00_Errors_5F00_TEST_5F00_LC4357.zip

Unknown 说：

我通过运行 DIAGMODE=5 Test、然后测试端口 B、成功测试了端口 B 1位错误
但之后我只能再次测试端口 A。

我还没有测试这个。

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

我还没有查看您的代码、但我通过为每个测试运行 DIAGMODE-5诊断、成功地运行了对端口 B 的诊断。  
它看起来是这样的：

flashDiagMode5Test(); // Diagnostic FLA10

flashDiagMode7Test( 1bitTest, 4) // 0 = buffer B
flashDiagMode7Test( 1bitTest, 0) // 0 = buffer A

flashDiagMode5Test(); // Diagnostic FLA10

flashDiagMode7Test( 2bitTest, 4) // 0 = buffer B 
flashDiagMode7Test( 2bitTest, 0) // 0 = buffer A

出于某种原因、在为端口 B 运行 FLA11 (DIAGMODE-7)之前运行诊断 FLA10 (DIAGMODE-5)会使其工作。

谢谢、此致、
最大值

尊敬的 Max：

我刚刚创建了一个项目来测试 DIAGMODE-5 (F021F_FDIAGCTRL_DMODE_ADDR_TAG)、并将在明天尝试更新此项目。

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谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

有更新吗？

尊敬的 Max：

我对因我的更新而造成的延误深表歉意。

Unknown 说：

我通过运行 DIAGMODE=5 Test、然后测试端口 B

完全正确、我的意思是 DIAGMODE=5、那么端口 B 缓冲区也会触发地址标签错误。

下面是我的结果：

在上面的测试中、设置了端口 B 地址标签错误：

在 ESM 明智的组3通道13被置位、这只不过是地址标签错误。

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

在您进行 DIAGMODE=5测试后、端口 B 的闪存 ECC 测试是否正常工作。

如上所述、我做了以下工作：

flashDiagMode5Test(); // Diagnostic FLA10

flashDiagMode7Test( 1bitTest, 4) // 0 = buffer B
flashDiagMode7Test( 1bitTest, 0) // 0 = buffer A

flashDiagMode5Test(); // Diagnostic FLA10

flashDiagMode7Test( 2bitTest, 4) // 0 = buffer B 
flashDiagMode7Test( 2bitTest, 0) // 0 = buffer A

这样我也会得到 DIAGMODE=7的预计结果。

尊敬的 Max：

对我来说、即使在 DIAGMODE=5之后、端口 B 也无法正常工作。

我将重试、如果我成功、我将发布更新。

尊敬的 Jagadish：

在 DIAGMODE=5测试期间、我们测试每个缓冲区、首先是端口 A 缓冲区0、然后是端口 A 缓冲区1、 端口 B 缓冲区0、 端口 B 缓冲区1、端口 B 缓冲区2、最后是 端口 B 缓冲区7。

测试 端口 B 缓冲器7后、我们完成测试、然后 调用 flashDiagMode7Test 以获得  端口 B 缓冲器0。  

您是否以这种方式尝试过？

尊敬的 Max：

Unknown 说：

在 DIAGMODE=5测试期间、我们首先测试每个缓冲区、先测试端口 A 缓冲区0、然后测试端口 A 缓冲区1 、 端口 B 缓冲区0、端口 B 缓冲区1、端口 B 缓冲区2、最后测试端口 B 缓冲区 7。[/QUOT]

我甚至尝试了你提到的程序。 但我仍然收到 DIAG-7的仅 Porta 错误。

我随附了我的项目供您参考、如果需要进行任何其他修改、请提供建议：

e2e.ti.com/.../6330.FEE_5F00_ECC_5F00_Errors_5F00_TEST_5F00_LC4357.zip

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谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：
我将查看您的规范、将其与我们的规范进行比较、并在此处报告我的发现。

尊敬的 Jagadish：

我注意到两件事。

第一、
在每次诊断测试5－测试后、您将等待设定的时间、并且不会检查测试是否通过。
我建议等待 FEDAC_PBSTATUS-Register 中的 ADD_TAG_ERR 位被设置。

然后
测试完成后需要禁用诊断模式。

您能在进行这些更改时重试吗？

谢谢、此致、
最大值

尊敬的 Jagadish：

您是否能够使用我提到的更改进行尝试？

谢谢、此致、
最大值

尊敬的 Max：

Unknown 说：

测试完成后需要禁用诊断模式。

我在每次测试后禁用诊断模式。

Unknown 说：

在每次诊断测试后、您都在等待设定的时间、并且您不会检查测试是否通过。
我建议等待 设置 FEDAC_PBSTATUS-Register 中的 ADD_TAG_ERR 位。

我进行了如下修改并进行了测试。

仍然无法获得 Port_B 的错误、如下所示：

通常情况下、我仅获得端口 A 的 ESM 中断、如下所示：

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此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

很奇怪的是,我们似乎有一个变通办法是有效的,虽然它似乎不能复制到你的最后

我们必须在上电时运行该诊断、但由于硬件似乎受支持、我们不确定应该怎么做。

在这种情况下、TI 有什么建议？

由于我们针对诊断的权变措施正在工作、我认为我们应该让诊断保持原样？

谢谢、此致、
最大值