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[参考译文] TMS470MF03107:S4MF03107SPZQQ1R

Guru**** 2502205 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1456758/tms470mf03107-s4mf03107spzqq1r

器件型号:TMS470MF03107

工具与软件:

尊敬的 TI 团队:

我为 S4MF03107SPZQQ1R 的 FA 提交了 CPR241113226。 就无法对其进行编程。 尝试擦除也失败。 ABA 交换完成、故障跟随 MCU。

https://www.ti.com/productreturns/docs/showAnalogueSummary.tsp?returnId=CPR241113226

你们的团队拒绝了我的 CPR、要求我先与 TI FAE 进行讨论。  我联系 E2E 寻求支持。

请帮助检查此问题。 有关详细信息、请参阅 CPR 链接。  如果您想了解任何其他故障详情、请告知。  

谢谢!

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    [报价 userid="540485" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1456758/tms470mf03107-s4mf03107spzqq1r ]您的团队拒绝了我的 CPR、请我先与 TI FAE 进行讨论。 因此 我联系 E2E 寻求支持。

    您是否收到 TI 关于该退货的任何报告? 如果是、联系您的人是谁? 您提供的链接不可用。  

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    尊敬的 Charles:

    TI 拒绝 对本案例执行 FA、因此我没有收到任何 TI 报告。  它是由你的系统回复的,我不知道确切的人。

    我附上了这封电子邮件供您参考。

    .  e2e.ti.com/.../Texas-Instruments-requires-additional-information-about-CPR-No--CPR241113226.msg

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    尊敬的 Jialing:

     您收到了器件吗? 您所附的消息 包含以下注释、即 需要客户提供其他信息。 我需要弄清楚谁是负责处理您的问题的质量 FAE。  

    请让 TI FAE 查看报告的编程失败详细信息和技术方面的意见、并使用 FAE 上传电子邮件以供参考。 当您发现"无法编程"时、您是否检查了与良好电路板/良好器件相比的任何引脚电压或任何引脚电阻异常? 我不知道您的 FAE 是谁、或者贵公司是否有专门的 TI FAE、您可以咨询买方以获取。如果没有专门的 FAE、您可以找到 TI E2E 来获取技术支持。

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    尊敬的 Charles:

    很抱歉这么晚才回复。

    与参考板和单元相比、没有发现任何电压和阻抗异常。

    我还没有把器件发往 TI、因为你们的团队拒绝了我的 CPR FA 请求。 现在、我手头有器件、需要 TI 为该器件的 FA 提供支持。

    我不知道是谁是质量 FAE、因为回复是 TI 系统发来的、没有显示质量人员的联系方式。

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    尊敬的 Jialing:

      您能否再次申请 CPR 并说明您已完成 ABA 交换、还可以  根据您收到的电子邮件中的要求、验证电压和阻抗与参考板和装置的比较。  德州仪器(TI)需要有关 CPR 编号 CPR241113226.msg 的其他信息。 因为我们不处理 e2e 上的 CPR、所以我可以做的事情不多。 TI 质量团队将根据您的最新信息审核您的信息并提供反馈。  

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    我昨天在 CPR 中再次解释说、但他们仍然不接受 FA 请求。  

    它们提供联系人窗口。 Frank Hou junfeng-hou@ti.com  

    您能帮助与 Frank 核实他们在地球上需要什么吗? 谢谢!

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    尊敬的 Jialing:

     我可以向这名工程师核实。 他有没有提供理由?

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    您好!

     芯片是否第一次编程/擦除失败? 换言之、在开始显示错误之前、编程/擦除操作是否成功?

     编程失败时、您能显示错误吗?

     您使用哪种调试探针? 您是否有可以尝试重现错误的另一个调试探针?

     您可以运行 JTAG 扫描链测试吗? 下面是使用 XDS200调试探针运行扫描测试的示例。 您的扫描测试结果是什么? 首先在已知正常的电路板上运行以获得用于比较的参考、然后尝试在可疑的电路板上进行比较。  

    [Start: Texas Instruments XDS2xx USB Debug Probe_0]
    
    Execute the command:
    
    %ccs_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile% -rv -o -S integrity
    
    [Result]
    
    
    -----[Print the board config pathname(s)]------------------------------------
    
    C:\Users\a0321879\AppData\Local\TEXASI~1\
        CCS\ccs1011\0\0\BrdDat\testBoard.dat
    
    -----[Print the reset-command software log-file]-----------------------------
    
    This utility has selected a 560/2xx-class product.
    This utility will load the program 'xds2xxu.out'.
    The library build date was 'May  7 2020'.
    The library build time was '20:23:44'.
    The library package version is '9.2.0.00002'.
    The library component version is '35.35.0.0'.
    The controller does not use a programmable FPGA.
    The controller has a version number of '13' (0x0000000d).
    The controller has an insertion length of '0' (0x00000000).
    This utility will attempt to reset the controller.
    This utility has successfully reset the controller.
    
    -----[Print the reset-command hardware log-file]-----------------------------
    
    This emulator does not create a reset log-file.
    
    -----[Perform the Integrity scan-test on the JTAG IR]------------------------
    
    This test will use blocks of 64 32-bit words.
    This test will be applied just once.
    
    Do a test using 0xFFFFFFFF.
    Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x00000000.
    Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0xFE03E0E2.
    Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x01FC1F1D.
    Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x5533CCAA.
    Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0xAACC3355.
    Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0
    All of the values were scanned correctly.
    
    The JTAG IR Integrity scan-test has succeeded.
    
    -----[Perform the Integrity scan-test on the JTAG DR]------------------------
    
    This test will use blocks of 64 32-bit words.
    This test will be applied just once.
    
    Do a test using 0xFFFFFFFF.
    Scan tests: 1, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x00000000.
    Scan tests: 2, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0xFE03E0E2.
    Scan tests: 3, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x01FC1F1D.
    Scan tests: 4, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0x5533CCAA.
    Scan tests: 5, skipped: 0, failed: 0
    Do a test using 0xAACC3355.
    Scan tests: 6, skipped: 0, failed: 0
    All of the values were scanned correctly.
    
    The JTAG DR Integrity scan-test has succeeded.
    
    [End: Texas Instruments XDS2xx USB Debug Probe_0]