[参考译文] TMS570LC4357：在独立模式下运行时、存储器测试失败

尊敬的  Gobind Singh：

[quote userid="448206" url="~/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1418559/tms570lc4357-memory-test-fails-when-run-in-standalone-mode 通过重启并允许其独立运行后、内存测试就会失败、并卡在"testFail"汇编指令中。 (下面的屏幕截图)

如何在没有 JTAG 的情况下知道它卡住了什么？

——
谢谢、此致、
Jagadish。

我知道是因为：

1.下电上电后启动 ccxml 文件、选择"connect target"并加载符号(无重新编程)。 它会向我显示代码卡住的位置。 这是我在第一篇文章中分享的屏幕截图。  

2.在步骤1之后,如果我进行了软重置并尝试重新运行,测试会失败。 它无法在内存中写入模式。 某些存储器甚至不能在 CCS 的"Memory"(存储器)窗口中写入。

3.重新编程代码并运行时(不重启),运行正常。

尊敬的 Jagadish：  

请提供有关此问题的任何更新？

谢谢你。

Gobind Singh

尊敬的 Gobind Singh：

对不起延误,我被其他问题所困扰。 我将在本周向您提供最新情况。

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Gobind Singh：

我对延迟答复深表歉意。

您是否仍然受困于此问题？

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

是的、我仍然有这个问题。

谢谢

Gobind Singh

尊敬的 Gobind Singh：

对进一步拖延深表歉意。

今天我有机会对你的项目进行调试。  

但在这里,我不能面对你所说的问题。

这是调试器中的执行结果：

我们可以看到、代码卡在主循环的 while (1)处、汇编指令位于地址0x46AC 处。

现在我所做的是、我退出调试模式、对电路板进行上电复位、之后我连接到电路板、而不重新刷写代码以验证代码卡在何处。

结果如下：

它只执行0x46AC 指令、这意味着代码再次停留在主循环中的 while (1)上。

我不会面对你所说的问题。

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

您是断开 USB 电源并重新连接、还是只是使用电路板上的开关进行复位？ 我认为当我们使用开关时可以正常工作、但在进行循环通电时无法正常工作

谢谢你

Gobind Singh

尊敬的 Gobind Singh：

您是正确的、断开并重新连接 USB 电缆后、我可以看到问题：

即使我尝试直接写入存储器也会产生问题。 我怀疑内存权限问题可能导致了此问题。 由于此代码不是从 HALCoGen 生成的、因此我无法轻松找到根本原因。

我正在尝试自己的方式、同时也要求您将此代码与我们 HALCoGen 生成的启动代码进行比较、而后者没有此问题。

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：  

我也尝试过使用 HALCoGen 代码、但当我添加内存测试时、发现代码显示相同的行为。

谢谢。

Gobind Singh

尊敬的 Jagadish：

有任何相关更新？

谢谢你。

Gobind Singh

尊敬的 Gobind Singh：

问题在于、此代码不是 TI 代码、而且不是从 HALCoGen 或使用 SDL (SafeTI 诊断库)生成的。

而这段代码是以汇编语言编写的。 所以、理解和调试这种逻辑需要花费大量的时间。

我们有 SDL 来测试存储器和外设、您为什么不使用此 SDL 代码进行测试？

SAFETI_DIAG_LIB 驱动程序或库| TI.com

——
谢谢、此致、
Jagadish。

尊敬的 Jagadish：

我现在已经使用 Halcogen 生成的代码文件"HL_sys_core.asm"来初始化寄存器。 我现已将代码简化为仅进行三次函数调用、其中两次是 halcogen 创建的。 第三种方法只是测试写入和从 RAM 读回。 我已经附加了构建以便复制该问题。

问题是、仅在下电上电后才出现问题时、无法进行调试。 当我重新连接仿真器时、问题已经发生了。 我甚至不使用定制板、这是 TI 评估板。 现在、代码也是 Halcogen 生成的。

谢谢你。

Gobind Singh

e2e.ti.com/.../02_5F00_StandaloneBoot.zip

尊敬的 Gobind Singh：

我的道歉,因为节日,我离开了几天。

您可以一次参考以下主题吗：

(8) nPORRST 之后的 TMS570 RAM 状态-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛

(8) RM57L843：SYSESR 寄存器中的 EXTRST 和 PORST 位-基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛

我认为断电和 PORRST 在 RAM 上有不同的运行方式影响、正如上面的线程所提到的、即使对于 PORRST 也是 如此、RAM 的内容将不会生效并且只有在真正断电情况下、RAM 将包含垃圾值。

我怀疑由于这种行为、只有我们遇到 RAM 测试失败。

在执行 RAM 测试前、您是否还可以尝试包含 memInit？

——
谢谢、此致、
Jagadish。