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[参考译文] TMS570LC4357:在诊断模式之外生成 ECC 错误

Guru**** 2077950 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1464728/tms570lc4357-generating-ecc-errors-outside-diagnostic-mode

器件型号:TMS570LC4357

工具与软件:

是否可以在非诊断模式下生成或引发 ECC 错误(在正常操作期间)? 我知道诊断模式、但我正在尝试生成一个能够导致复位的中断。 尝试在不进入诊断模式而不得出结果的情况下破坏 DCAN1 RAM 中的 ECC 值。 未找到相关信息、仅找到与自检相关的信息、默认情况下表示诊断模式。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Yvonne Saabbagh:

    否、除非存储器确实损坏、否则不可能处于诊断模式之外。

    我的意思是、如果我们尝试操作诊断模式之外的存储器中的任何位、则相应的 ECC 部分也将更新为相应新数据的新 ECC 值。 这样、我们绝不会最终出现 ECC 错误。

    或许至少对于闪存、您可以尝试以下方法、

    可以禁用"Auto ECC generation"选项、然后可将代码编程到内存中、这将创建闪存不可纠正的 ECC 错误。  我认为对于 RAM 是不可能的。

    ——

    谢谢、此致、
    Jagadish。