[参考译文] TAA5242：MD2：1 设置和增益值

尊敬的 Nishie：

我自己在 EVM 上测试了这个，没有得到相同的结果 — 在这里的 192k 设置下、仍然是–14dB。 但我注意到、当 MD2 为低电平而 MD1 为高电平时、在目标模式下、AVDD 预计会更低、这也许是您在这里将输出增大 2 倍的原因吗？ 这只是一个理论、由于您使用的是控制器模式、因此情况不应如此。  

您能否分享有关设置的更多信息、您能否截屏整个 AP 窗口、以便查看您正在使用哪些输出？ 并附上一张您如何连接到 EVM 的图片。

还有一个注意事项 — 如果在设备连接时更改跳线，则可能处于未知状态，我建议在使用跳线进行更改时断开 USB、或者在每次更改之间进行电源复位。

此致、
Mir

尊敬的 Mir-san：

感谢您的支持。

我自己在 EVM 上测试了此 EVM，但没有获得相同的结果 — 在这里的 192k 设置下、仍然是–14dB。 但我注意到、当 MD2 为低电平而 MD1 为高电平时、在目标模式下、AVDD 预计会更低、这也许是您在这里将输出增大 2 倍的原因吗？ 这只是一个理论、由于您使用的是控制器模式、因此情况不应如此。  [/报价]

->感谢您对 EVM 的评估。 我知道在目标模式下输出电平没有问题。 您能否在控制器模式下检查输出电平？

[引述 userid=“564139" url="“ url="~“~/support/audio-group/audio/f/audio-forum/1538098/taa5242-md2-1-setting-and-gain-value/5916772 #5916772“]

您能否分享有关设置的更多信息、您能否截屏整个 AP 窗口、以便查看您正在使用哪些输出？ 并附上一张您如何连接到 EVM 的图片。

还有一个注意事项 — 如果在设备连接时更改跳线，则可能处于未知状态，我建议在使用跳线进行更改时断开 USB、或者在每次更改之间进行电源复位。

[/报价]

->客户正在准备环境进行评估。 一旦获得结果、我将与您联系。

此外、还介绍了客户的输入和输出条件。

输入：DSIO（（MCLK 24.576MHz、LRCK/BCK 输入）
输出：模拟不平衡 1kHz 200mVrms

此致、

Nishie

尊敬的 Nishie-san：

我在进行测试时处于控制器模式。 我有相同的设置,所以我会等待你的屏幕截图/图片,我们可以继续评估. 另外、请提供 AP 数字串行设置页面的屏幕截图。 我还想知道这是否是比我使用的更旧的芯片版本？ 您能否在 TAA5242 顶部发送标记、以便我可以验证？

此致、
Mir

尊敬的 Mir-san：

感谢您在控制器模式下进行测试。

即使在控制器模式下、客户也已使增益加倍。 我想知道这样做的原因。

我附加了一个文档、其中包含 AP 窗口的屏幕截图、还有一张 EVM 连接图片 。如果您能查看这个文档、我将不胜感激。

e2e.ti.com/.../TAA5242-MDx-setting-and-Input_5F00_Output-level_5F00_rev2.xlsx

此致、

Nishie

您好、NIshie-san、

我明天会检查这里的连接、然后返回给您。 很抱歉耽误你的时间。

此致、
Mir

尊敬的 Mir-san：

感谢您的支持。

您有任何更新吗？

此致、

Nishie

尊敬的 Nishie-san：

我想知道光学连接是否导致了此问题？ 测试时、我使用了 AC-MB 中的 DOUT1 接头、靠近 BCLK 和 FSYNC 连接。 我看到您在第一张图片中使用了此功能、但新图片具有用于数字输出连接的光学功能。 另一个注意事项是、在控制器模式下、位深度始终为 32、因此在 AP 上将其设置为 24 可能会使测量值看起来小于我们预期的值。

此致、
Mir

尊敬的 Mir-san：

感谢您查看图片。 图片有一个修正。

数字输出在测量目标模式时使用。 测量控制器模式时、连接 AP DSIO 和接头引脚。 很抱歉、连接图片令人困惑。

客户将确认位设置。

此致、

Nishie

谢谢、

如果更改位深对这里有帮助、请告诉我。

-米尔

尊敬的 Mir-san：

客户更改了位深、但是条件没有改善。 如果有任何其他项目需要检查、请告知我。 IC 是否有缺陷？

我会再次向客户报告情况。

・当控制模式 MD [2：1]=“01"时“时、与其他设置相比、增益增加+6dB。
・当控制模式 MD [5：4]=“11"时“时、增益比控制模式 MD [5：4]=“10"时“时低 6dB。 （在目标模式下是相同的，所以这是规格吗？）

此致、

Nishie

我想知道当器件处于 I2S 或 TDM 的控制器模式时、这是否有任何不同？  

我可以在本周晚些时候再次查看。  

此致、
Mir

尊敬的 Mir-san：

1.你在实际机器上测量它了吗?

2、客户测量了 I2S 与 TDM 之间的差异。

对于 TDM、输出仅在设置了 fs=96kHz@24.576MHz 时可用。 因此、我们仅在 fs=96kHz 时进行测量。 随附的是总结结果的文档。

e2e.ti.com/.../TAA5242-MDx-setting-and-Input_5F00_Output-level_5F00_rev3.xlsx

结果与 I2S 相同。 I2S 和 TDM 之间似乎没有区别。 您是否可以在实际机器上测量此结果？

此致、

Nishie

尊敬的 Nishie-san：

我将在接下来的一周离开、因此请我的同事在这里进行验证。 但是、是的、我们使用与您相同的 EVM 以及相同的 APx555 进行测量。

-米尔

尊敬的 Yuta：

对延迟表示歉意、我将在一天结束时检查您的配置

尊敬的 Daveon-San：

感谢您的支持。

如果有更新、请告知我。

此致、

Nishie

很抱歉耽误时间、我仍在审核、如果没有意见、我可以明天对此器件进行基准测试。

尊敬的 Deveon-San：

如果您能查看并进行基准测试、我将不胜感激。

此致、

Nishie

尊敬的 Yuta：

您的观察结果是正确的。 当您调整 MD4/MD5 引脚以设置共模容差时、这将改变 ADC 输入的有效满量程范围并降低 SNR 性能。  

在表 2-3 表 2-5 中说明了硬件控制型器件的情况、本应用手册的第 1 节 ( https://www.ti.com/lit/pdf/slaaeg6) 对此进行了说明

此外、EVM 用户指南的表 2-4 还说明了控制器模式下支持的采样率和比率存在限制。  https://www.ti.com/lit/pdf/slau904

尊敬的 Daveon-San：

感谢您确认 MD4:5 针脚并发送材料。 我会告诉客户您告诉我的内容。

此外、您能否证实 I2S 和 TDM 之间没有差异的原因、以及控制模式 MD 下增益增加的原因[2：1]？

2、客户测量了 I2S 与 TDM 之间的差异。

对于 TDM、输出仅在设置了 fs=96kHz@24.576MHz 时可用。 因此、我们仅在 fs=96kHz 时进行测量。 随附的是总结结果的文档。

TAA5242 MDX 设置和 Input_Output level_rev3.xlsx

结果与 I2S 相同。 I2S 和 TDM 之间似乎没有区别。 您是否可以在实际机器上测量此结果？

・当 Control Mode MD [2：1]=“01"时“时、增益比其他设置增加+6dB。

此致、

Nishie

尊敬的 Daveon-San：

我还有其他问题。

e2e.ti.com/.../TAA5242_5F00_Questions_5F00_20250804.xlsx

1.  

在表 2-3 表 2-5 中对硬件控制型器件进行了说明、本应用手册的第 1 节对此进行了说明： https://www.ti.com/lit/pdf/slaaeg6

->您能否在随附的文档中确认 Q1？

本应用手册介绍了满量程范围随共模是否处于高共模而变化、但 EVM 手册介绍了该范围不会发生变化 (1Vrms)。 应用手册或 EVM 手册中哪一项是正确的？

2.

此外、在 EVM 用户指南的表 2-4 中、控制器模式下支持的采样率和比率存在一些限制。  https://www.ti.com/lit/pdf/slau904

->您能否在随附的文档中确认问题 2？

如果是 TDM、而是 I2S、我认为在测试中使用的条件下没有限制 (MCLK 24.576MHz、fs=192kHz)。 请具体告诉我有限的商品。

此致、

Nishie

尊敬的 Nishie-san：

Daveon 已离职、因此我正积极支持。  

->您能否在随附的文档中确认 Q1？

本应用手册介绍了满量程范围随共模是否处于高共模而变化、但 EVM 手册介绍了该范围不会发生变化 (1Vrms)。 应用手册或 EVM 手册中哪一项是正确的？

您从 EVM 手册中提供的表格（表 2-1。 “Input Jumper Configuration“）不显示高共模下的任何行、而仅显示交流耦合和直流耦合模式的不同跳线配置。 您用蓝色标出的框 不一定代表您建议的 MD5-4=11 配置。 这就是红色框和蓝色框之间的满量程值 1Vrms 相同的原因。 较高的共模容差将影响满量程输入电压。

->您能否在随附的文档中确认问题 2？

如果是 TDM、而是 I2S、我认为在测试中使用的条件下没有限制 (MCLK 24.576MHz、fs=192kHz)。 请具体告诉我有限的商品。

表中仅列出了采样率限制、您所使用的条件似乎应该遵循。 对于 2 通道和 32 位深度测量、确保 BCLK 至少为 64Fs (12.288MHz)。 （最小 BCLK =通道数*位深度* FS）

Daveon 将在本周晚些时候返回、如果您有其他问题、可以提供支持。

此致、

Garret

尊敬的 Garret-san：

感谢您的支持。

我知道这是一个通过设置 MD [5：4]来改变输入范围的规范。

关于 MD [2：1]=“01"增“增益变化的查询、我想知道如果还支持采样率 fs=192kHz、为什么增益会发生变化。
很抱歉、请再次关注此事。

此致、

Nishie

尊敬的 Nishie-san：

您是否能够在其他电路板上重新创建此问题？ 我们尚未看到您在 EVM 上描述的问题。 使用您提供的设置和连接、对于所有采样频率、满量程下的增益应该为 0dB。 其他采样频率的增益测量值是多少？ 您的意见是什么？ 我正在继续调查这一问题。

此致、

Garret

尊敬的 Garret-san：

由于我只有一个 EVM、因此无法评估其他 EVM。 当前 EVM 的 IC 是否损坏？

即使我更改了采样频率和 MCLK (CCLK)、增益也没有改变。 进行以下设置 (1) 和 (2)、和 (2) 会在任何频率下将增益增加+6dB、而在任何频率下将增益增加 (1)。

(1) MD [2：1]= 2'b00、2'b10、2'b11（–20dB)

(2) MD [2：1]= 2'b01（–14dB)

此外、AVDD 设置为+3.3V、但即使 EVM 的 J24 设置为+1.8V、增益也没有变化。（此时，3.3V 和 1.8V 电压是正常电压。） 之前、您已评论道、在控制器模式下应禁用目标模式下的 AVDD +1.8V 设置。 是否可能由于某种原因启用了该功能？

此致、

Nishie

尊敬的 Nishie-san：

我不能肯定地说 、但我更愿意在声明 IC 有问题之前对此进行进一步调查。 AVDD 也可能不是问题、因为控制器模式需要 AVDD 3.3V。

我的理论更倾向于与位错位有关、因为与一位不匹配的信号似乎是 增益的加倍。 我正在为此器件获取新的 EVM、可能需要几天时间尝试重现和确认问题。

此致、

Garret

尊敬的 Garret-san：

感谢您获取新 EVM 并继续进行评估。 我正在等待结果。

另外、如果由于位移而导致问题、我会担心、因为我假设 IC 内部的时序是关闭的。

此致、

Nishie

尊敬的 Nishie-san：

我今天要进一步探讨这个问题、并有几个问题。 您在发送的其中一张插件中附上了 EVM 的照片、其中显示了一个 RCA 连接器连接到输入 1 和输入 2 的 INxP 端子。

1. 这些连接器是否来自同一根电缆? 意味着什么？ 在这种情况下、它们应在 AP 范围中可见。

2.您在发送的表格中进行的每一次测量,您的电缆是如何布置的吗?  现在我开始想知道是否由于差分配置和单端配置之间的满量程不匹配而导致加倍、因为这比我之前的理论更有可能。  

3.在差分和单端模式之间切换时,您是否更改了以下输入跳线?

我仍在等待新 EVM 的评估、希望这个评估将在下周中旬完成。

此致、

Garret

尊敬的 Garret-san：

1. 它们与 AP 的不平衡 (LCH/RCH) 分开连接。

2. 据我所知,用于设置差分和单端的针脚只有 MD [5 : 4]。 即使 MD [5：4]设置为差分或单端固定、如果 MD [2：1]设置为 CCLK/128、为什么增益会发生变化？

3. 测试设置为直流耦合跳线设置。

我更改了多个跳线、例如 MICBIAS 并进行了测试、但情况没有改变。 如果 MD [2：1]设置为 CCLK/128、那么此处是否有跳线设置会改变增益？

此致、

Nishie

尊敬的 Nishie-san：

1.能否发送您使用的 AP 连接的照片?

2.我仍在研究这个,等待我的新 EVM 测试。 MD[2：1]不应自行影响增益。

3.在 MD[5：4]中在差分模式和单端模式之间切换时、是否在 J6 和 J12 上添加跳线以将硬件配置为单端？

我期待您的答复。

此致、

Garret

尊敬的 Garret-san：

1. 连接图如下所示。 与 AP 的连接未更改。

2. 获得 EVM 的测量结果时请通知我。

3.由于输入不是差分输入、因此始终在安装状态下测量 J6 和 J12（以及 J7 和 J14）。 J15、J16、J17 和 J18 始终在开路状态下测量。 从这些结果中、您能否告诉我们您是否对此问题的原因有任何疑问？

此致、

Nishie

尊敬的 Nishie-san：

感谢您的澄清、请告诉我、直到一周结束进行测试（我的 EVM 仍有一些交付问题）。

此致、

Garret

尊敬的 Garret-san：

我明白。 请告知我 EVM 到货和评估完成的时间。

此致、

Nishie

Nishie-san

我今天收到了 EVM、并将开始评估。 当我得出结论时、我将再次作出答复。

我注意到您说过这里的跳线设置为直流耦合：

J15、J16、J17 和 J18 始终在打开状态下测量

我还注意到、电路板上与输入交流耦合的电容器 C4、C5、C6 和 C7 似乎已断开连接。 您是否确实更改了电路板？

谢谢和最好的

Garret

尊敬的 Garret-san：

感谢您开始评估。

但 此处描述的配置建议采用交流耦合模式： 

我对我缺乏理解表示歉意。 我是否正确理解、您到目前为止所介绍的内容与交流耦合模式有关、并且这次出现问题是因为客户设置为直流耦合模式？  或者、我是否理解您将在直流耦合模式下进行评估？

我将与客户核实。

此致

Nishie

Nishie-san

客户设置的具体含义是直流模式？ 这是测量设置吗？ 在 EVM 上、AC/DC 耦合仅通过跳线 J15-18 设置。 由于它们均为开路、因此对输入进行了交流耦合。 如果存在不匹配、这可能会导致问题。 如有必要、我可以在两种模式下进行评估。

但是、我现在更担心的是电路板已损坏、尤其是我前面提到的电容器。 这 将影响交流耦合模式下输入的信号完整性、并可能导致出现意外结果。 我期待着你对此作出答复。

此致、

Garret

我建议插入跳线 J15-18、并在直流耦合模式下重新进行测量。

尊敬的 Garret-san：

客户设置究竟是什么意思？ 这是测量设置吗？ 在 EVM 上、AC/DC 耦合仅通过跳线 J15-18 设置。 由于它们均为开路、因此对输入进行了交流耦合。 如果存在不匹配、这可能会导致问题。 必要时、我可以在两种模式下进行评估。

我的理解中有一个错误。 请忘记此内容。

->我将 C4 更改为 C7 的陶瓷电容器更改为电解电容器。 电解电容器焊接在电路板的背面。 更改为电解电容器、以改善陶瓷电容器的低频音频特性。

我建议填充跳线 J15-18 并在直流耦合模式下重新进行测量。

->我设置 MD [5：4]=2'b01、2b'11、并更改了 MD [2：1]。 结果不变。 仅当 MD [2：1]=2'b01 时、增益才会提高 6dB。

此致、

Nishie

尊敬的 Nishie-san：

->我设置 MD [5：4]=2'b01、2b'11、并更改了 MD [2：1]。 结果不变。 仅当 MD [2：1]=2'b01 时、增益才会高 6dB。

这不是我描述的过程。 我希望您通过在直流耦合模式下进行测试 组装跳线 J15、J16、J17、J18 为了绕过硬件更改并将问题隔离到交流耦合模式。 这些不是 MD 引脚、而是 J71-75。 J15-18 位于 C4-7 旁边 。

MD[5：4]引脚会更改输入源（差分/单端）和共模容差、而不是耦合模式。

我认为您的问题是由于电路板的硬件更改而出现的、因为我能够在新的 EVM 上进行测试、并且无法通过更改 MD[2：1]复制您看到的增益增加。 我建议让新的 EVM 进行测试、以演示这不是器件问题。

此致、

Garret

尊敬的 Garret-san：

感谢您使用新 EVM 进行的评估。 此问题发生在更换电容器之前。 是否可以将 EVM 更改为新 EVM？

这不是我描述的过程。 我希望您通过在直流耦合模式下进行测试 组装跳线 J15、J16、J17、J18 为了绕过硬件更改并将问题隔离到交流耦合模式。 这些不是 MD 引脚、而是 J71-75。 J15-18 位于 C4-7 旁边 .

我对我缺乏理解表示歉意。 在我的测试中、我在将跳线连接到 J15 到 J18 时更改了 MD。 您能告诉我我将再次执行的测量方法吗？

此致、

Nishie

尊敬的 Nishie-san：

测量方法与之前相同、方法是更改 MD 引脚并测量 ADC 输出的 RMS 电平。 您能否发送新的电路板图片以及直流测量结果？

此致、

Garret

尊敬的 Garret-san：

我向您发送了一张 EVM 图片。

测量结果与我之前告诉过的结果相同。 仅当 MD[2：1]=2'b01 时、增益才会高 6dB。

此致、

Nishie

尊敬的 Garret-san：

我给你发了一封私人邮件。 如果您能确认、我将不胜感激。

在新 EVM 中、电容器保持原样。 未实现 MD5 的跳线、因此在测量时实现了该跳线。

此致、

Nishie

尊敬的 Garret-san：

我给你发了一封私人邮件。 如果您能确认、我将不胜感激。

此致、

Nishie

尊敬的 Garret-san：

感谢您的评估。

我会告诉客户您告诉我的内容。 如果有任何进展、我将与您联系。

此致、

Nishie

尊敬的 Garret-san：

我给你发了一封私人邮件。 如果您能确认、我将不胜感激。

此致、

Nishie

尊敬的 Nishie-san：

在测试新 EVM 时是否更改了 AC-MB？

此致、

Garret

尊敬的 Garret-san：

我测量了新 EVM 和旧 EVM。

我给您发送了一封私人消息。

此致、

Nishie