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[参考译文] TAS5825M：原理图审阅和问题分析

admin
Guru**** 2815505 points

Other Parts Discussed in Thread: TAS5825M

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/audio-group/audio/f/audio-forum/1577212/tas5825m-schematic-review-and-problem-analysis

器件型号：TAS5825M


你（们）好  

我在使用 TAS5825M 时发现某些批次的器件可能会损坏放大器 IC、从而导致 PVDD 短路并燃烧 22uF 滤波电容器。

PVDD=24V、L=4.7uH (Isat=9.5A、IRMS=6.7A、±20%)、C=680nF、 fsw=384khz、扬声器为 4 欧姆

image.png

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    TI__Guru**** 2815505 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Luke、

    是否可以将良好的装置交换到同一 PCB 上、并获得正常的输出行为？

    否则、其中一个无源器件可能会损坏。

    发生 PVDD 短路时、您的输入设置是什么？ 您能否提供输入/输出波形？

    此致、

    Sebastian  

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    TI__Guru**** 2815505 points
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    您好、Sebastian、

    是的、我们更换了同一 PCB 上的电容器和功率放大器芯片、测试是正常的。 在老化测试期间也没有问题

    “输入/输出波形“可以提供测试条件

    谢谢

    Luke

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    TI__Guru**** 2815505 points
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    您好 Luke、

    您更换了哪个电容器？ 您能否提供有关测试损坏的更多详细信息？  

    在此测试期间探测 TAS5825M 的输入和输出波形会有所帮助。  

    此致、

    Sebastian  

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    TI__Guru**** 2815505 points
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    、μ F C21 和 C24 更改为 4.7uF 50V X7R

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    TI__Guru**** 2815505 points
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    您好 Luke、

    也许 PVDD 上的瞬态导致电容器损坏？ 在测试期间使用高于正常工作电压的触发器探测 PVDD 可能会捕获到这一点。  

    此致、

    Sebastian