[参考译文] TAC5112：TAC5112 环回

尊敬的 Jas：

这是可以实现的、但您需要使用环回混频器寄存器而不是 INTF_CFG1 寄存器。

要在 DAC1 上启用 ADC1 环回：

页 0x11、寄存器 0x5A = 0x40

要在 DAC2 上启用 ADC2 环回：

页 0x11、寄存器 0x60 = 0x40

此致、

Garret

感谢您发送编修。

想知道 第 0x11 页对于 5112 是否有效、SLASF24A 中没有记录该页。（可能没有记录？）   

我曾尝试过 DAC1 的任何方法、但遗憾的是、在 OUT1P 处都没有看到任何模拟信号 — 假设我的 DAC 配置正确！
请确认此编解码器的页面。 如果完全正确、我想我的 DAC 配置不正确。

非常感谢、

Jas

尊敬的 Jas：

从 SLASF24A 的第 214 页开始、记录了第 0x11 页（第 17 页）。

您的 DAC 配置看起来正确 — 您是否确保 ADC 通道也已启用并通电？ 您发送的片段仅启用 DAC 通道并加电。

此外、在写入第 17 页寄存器之前、您是否已将 0x11 写入第 0 页以设置该页面？

此致、

Garret

尊敬的 Garret：

很抱歉、回复延迟。

我返回到 EV 套件和 Purepath3 尝试使 ADC 和 DAC 协同工作（采用 AC-MB 上的 USB 输入、因此不是我们的正常 AIF/I2S/时钟配置）。 在这方面取得了一些成功、但也有一些观察、我希望您能帮助我。

已尝试使用 i2c 监控器使用以下命令读取/写入环回寄存器页 0x11、寄存器 0x5A、但 1) 环回不起作用、2) 使用读取命令不读回任何内容。 （如果我离开冗余 00，则读取失败）

W a0 00 11   #将 PAGE 设置为 0x11
w a0 5a 40   #环回 ADC1 o/p 至 DAC1 i/p
R a0 5a 00    #读回寄存器 5a

数据表中指出、coeff 寄存器似乎想要执行多字节读取（我们的 MCU 实现方案无法执行这一操作）。 i2c 监控器可以执行此操作吗？如果是、正确的写入和读取命令是什么？ 我希望 i2c 监控器能够顺利处理。

如果不符合上述要求、我将 DOUT 连接到 AC-MB 上外部 ASI 接头上的 DIN 引脚、这似乎暂时起到了测试 DAC 工作模式的作用（如果 OUT1P/M 处的 INI1P/M 信号产生良好的副本，尽管存在一些串扰干扰）。

使用 PPC 预设配置、我将 ADC 和 DAC 设置配对、但会将启用 ADC（以及明显的上电寄存器）的延迟至同时启用 ADC 和 DAC 配置之后。 该序列是返回 MCU 代码的关键、因为我要设置 ADC、启用 i/p 通道并为 ADC 上电、然后 设置 DAC、启用 o/p 通道并为 DAC 上电、但也会保留 ADC 使能和功率位。 这个序列可能导致了我在开始时遇到的问题。

延迟 ADC 和 DAC 的使能和上电、直到最终结果似乎适用于我们的应用。

但是、我们的应用要求我们可以在任何时候单独启动和停止 ADC 和 DAC、并可能动态更改设置、因此我想了解允许采用这种灵活性的事件序列是什么？ 我是否需要将 ADC 和 DAC 断电以更改其中一个 ADC 和 DAC 的配置、还是要充分禁用它们？ 希望大家明白我的来源。

回到环回系数寄存器、了解如何在单元测试中正确读取/写入这些寄存器仍会很有用、尽管我们将从 MCU 到编解码器使用 SPI 总线、到目前为止、它的实现只需要一个 8 位寄存器值、因此我不确定它是否可以处理多字节操作。

非常感谢！

Jas