Other Parts Discussed in Thread: PCM1796
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器件型号： PCM1796
我们需要 Texas Instruments 的一些技术帮助：
我们使用 PCM1796 DAC 已有多年、最近发现一批电路板未通过测试。 我们调查了问题的原因、发现这始终是由连接到引脚 21 和 22 的去耦电容器 (VCOML 和 VCOMR) 中的漏电流过大引起的。
多年来、我们一直使用 Kemet 100uF 钽去耦电容器作为这两个电容器。 这些电容器的漏电流始终非常低、小于 0.1 微安。 不过、最近、其中一些电容器的漏电流高达 3 微安、在本例中、我们会看到 DAC 输出电流的变化非常大。
在 PCM1796 数据表中、我们没有找到有关这些电容器的漏电流如何影响 DAC 运行的任何说明、也没有找到有关用于对这两个引脚进行去耦的电容器类型的任何建议。
我们已经看到、尽管这些去耦器有两个单独的引脚、但在 TI 提出的使用该元件的原理图中、它们连接这两个引脚并使用单个去耦电容器。
总之、我们的问题是：
1.-用于引脚 21 VCOML 和 22 VCOMR 的去耦电容器 的漏电流对 DAC 的运行有什么影响？
2.- TI 建议将哪些电容器用于这些去耦、该电容器中的最大容许漏电流是多少？
3.-建议连接两个引脚并使用单个电容器、还是最好使用两个单独的电容器？ 这是否会影响任何运行规格（例如通道间串扰）？
