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[参考译文] INA137:在最近批次中THD+N @ 10kHz更高

Guru**** 1957125 points
Other Parts Discussed in Thread: INA137
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/audio-group/audio/f/audio-forum/611891/ina137-higher-thd-n-10khz-in-recent-lots

部件号:INA137

对于日期代码为61QH1和61EG4的零件,我们观察 到THD+N @ 10kHz 比过去15年的批次高。 必须更换日期代码为61QH1的2.5K卷轴上使用的所有1201零件。  

以前,我们使用10kHz / 19dBu正弦波输入测量的THD+N为-108dB至-110dB。 对于相同的测量,此批次通常显示-104dB的值。

输出上的负载为3.46k欧姆。
输出信号电平为13dBu / 3.46VRMS

使用旧日期代码中的部件更换部件解决了变形问题。

我们从我们的合同制造商放置的零件中观察到相同的读数,这些零件在内部手工焊接。

注:我将此信息 与客户信息表一起提交给TI客户支持中心,但他们将我转至该站点。 我可以发送此表单。

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    Bob,

    在f=10kHz时,INA137 THD+Noise规格的典型值为0.0005 % (106dB -见下文),但其幅度可能因正常过程变化而异。  变形的变化主要是由钣金阻力(+/- 15 %)值的变化以及零件带宽(+/- 30 %)的变化引起的。

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    您好Marek:

    感谢您的回复。

    我知道我们正在测量接近图中所示的THD+N水平。 但是,这些零件的制造过程似乎已经发生了一些变化。 12年来,它们一直很一致,但最近几批都显示出这一问题。

    是否存在制造变更?

    是否有其他人报告过这种情况?

    这些零件的假冒版本是否已上市?

    此致,

    Bob Bauman

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    Bob,

    您对INA137流程变更的怀疑可能是合理的。 一两年前,发生了影响EPI兴奋剂水平的过程变化,这可能会影响THD+Noise性能。 到目前为止,该问题已得到纠正,但问题是相关晶片批次是否也受到影响。 我已要求流程团队交叉引用您发送给我的日期代码(61QH1和61EG4),但到目前为止,我尚未收到明确的答案。 因此,在我听到他们的声音之前,可以安全地假设您测量的THD+噪音较低的原因实际上是由流程更改引起的。
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    Marek

    感谢您的更新。 请告诉我您的发现。  

    如果有理由,我们希望归还一些部件。

    Bob

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    Bob,

    此问题与我们工厂发现的噪音问题一致。 这一问题已得到解决,但在此期间制造的材料容易受到THD+噪音问题的影响。 但是,我正在与之合作的工程师告诉我,您提供的批次跟踪代码(LTC)不完整。  如果我们能够获得完整的LTC,我们就可以精确地指出确切的制造日期,并且根据我们可以从LTC提取的组装日期,我们将能够最终确定所涉晶圆批次是否受到影响。

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    您好,Marek:

    下面是61QH1部件卷轴上的标签图片。

    Bob

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    Bob,

    工艺工程师已确认所述批次是在实施工艺变更后生产的, 这意味着我们在流程中遇到的临时问题并不能解释您的问题,因此,修复不会消除在未来批次中显示"问题"的可能性。

    话虽如此,您之前写道:  

    以前,我们使用10kHz / 19dBu正弦波输入测量的THD+N为-108dB至-110dB。 对于相同的测量值,此批次通常显示-104dB的值。

    因此,您以前看到的THD+噪声比下面的数据表曲线(0.0005 % ~-106dB)略高几dB ,现在您看到它低2dB。 正如我之前所说,这些是典型的规格,可能会因工艺变化而有所不同。  但是,如果您的问题发生在10kHz时(即THD+Noise曲线的拐点),负载或带宽的任何变化(可能高达+/- 30 %)都很容易产生这种影响。  

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    了解,但我感到失望的是,经过这么多年之后,我们不得不放宽测试规格。 我希望他们仍然像以前一样一贯地工作。 哦,好的。

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    同意。 我希望我们可以防止流程发生变化,但这根本不可能,尤其是当工厂在不同地点之间移动时。
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