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[参考译文] TAS5782M：检测OTE时数字芯片的结温

admin
Guru**** 2362840 points
Other Parts Discussed in Thread: TAS5782M, TAS5754M
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/audio-group/audio/f/audio-forum/626660/tas5782m-junction-temperature-for-digital-die-when-detecting-ote

部件号：TAS5782M
主题中讨论的其他部件： TAS5754M

您好，

数字芯片和功率芯片的结温在TAS5782M数据表的第9页中提到，温度过高错误也在第12页中提到。
我担心，当电源芯片的结温上升时，数字芯片和电源芯片相邻放置在封装中时，它会影响数字芯片。
℃，在℃芯片上检测到温度过高错误(超过165 ̊ F)时，是否存在交叉点温度升高超过125 ̊ C而导致故障的可能性？

此致，
加藤

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    TI__Guru**** 2362840 points
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    Kato-San您好！ 这种相邻的冲模概念多年来在我们的许多零件中非常常见，包括一些达到100瓦的零件。 我们将设备作为完整的封装进行测试和表征，并根据整套设备的整体效果设置所有规格阈值和限值。 这意味着这些极端因素被纳入到设备的操作中，因此您的设计应该没有问题。 谢谢，Jeff
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    TI__Guru**** 2362840 points
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    你好，Jeff-San，

    感谢您的及时回复。

    我还担心阈值高于其他类似设备(例如 TAS5754M/56M)，因为TAS5782M上的温度过高错误阈值为165℃(典型)。
    因此，我认为这不是问题，但我希望你确认一下，以防万一。

    此致，
    加藤

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    TI__Guru**** 2362840 points
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    Kato-San您好！

    这是此类设备的标准测试。 当受到应力时，热量主要分布在Power管芯上，不会对其他管芯产生重大影响。  我们在3.4W总功耗下的测试条件不会在70°C环境温度下触发OT保护。  谢谢，Jeff

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    TI__Guru**** 2362840 points
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    你好，Jeff-San，

    感谢您的解释。

    我明白了。
    顺便说一句，请您再次与我共享上述文档，因为我无法访问它吗？

    此致，
    加藤