[参考译文] LM4752：缺陷率分析

1.是的。他们回复我：TI已审核此请求。 根据报告的症状，已确定设备已经历EIPD -电气引起的物理损坏。 TI已确认所有设备在发运至客户之前均已接受100 % 电气测试。 在TI发生的EIPD/EOS损坏被判定为不可能发生。 TI不考虑对样本进行进一步分析。 此设备在最近几年中没有客户退货，非常旧的历史退货有一次针脚短路，FA确认EOS损坏/EIPD，FA只能告知EOS损坏结果，但不能告知EOS的根本原因/来源。 建议检查哪个引脚短路，在电源开/关和测试期间测试引脚电压波形，然后与TI FAE或E2E核实应用情况，并对EOS风险进行测试审核，查看是否有任何超过TI最大额定规格的瞬态过压峰值。

2200台同批，目前只有3台受损，但担心产品质量问题，其他设备目前还不敢使用。

3.开机时损坏。我们的设备已通过静电测试。 如果我们已经过静电测试，这是可以的。

4.新封装：今天同一批中有一个坏封装(批也和以前的3个一样)：同一芯片上的一个接口突然没有声音，另一个接口正常

您好，Suzhen：

我将查看QA报告，了解有关分析和调试的更多详细信息，并将在本周下半年尝试获取更多意见。

此致，
Ivan Salazar
应用工程师

感谢您的帮助！

此外，我们怀疑他们的判断，即这是EOS的结果。 即使EOS也希望提供分析报告。 如果您有任何疑问，请联系我：KXECBOBO@OUTLOOK.COM

您好，Suzhen：

您是否测试了引脚之间的导通性以确定哪些引脚损坏？ 您可以比较良好设备与损坏设备之间的连续性结果。 我不知道偏置引脚上的静音电路是否相关，它与数据表建议不完全相同，可能静音转换太快输入直流电平处的瞬态信号随后被放大，并可能导致输出处的EOS。

除了这一点，我们不能给出更多的评论，这款设备的历史记录不会显示任何其他质量声明，可追溯到几年前。
我无法评论拒绝分析的决定，根据包装上的燃烧和裂缝，似乎认为部件由于EOS而损坏。 在这种情况下，可以确认损坏，但无论如何都不能确定根本原因。

此致，
Ivan Salazar
应用工程师

我们还使用其他批次，但所有缺陷都反映在批次15a2y8ue3中。 请您重新测试这批产品(您的库存可能仍有这批产品)，以消除这批产品的问题，并提供这批产品的测试报告。感谢您的帮助。 我真的需要你们的帮助！

您好，Suzhen：

对于这一特定批次，至少与我所能了解的内容没有任何区别。
遗憾的是 ，除了评论哪些方面值得检查以了解 造成 损坏的原因之外，我无法从应用程序方面做太多事情。

此致，
Ivan Salazar
应用工程师