主题中讨论的其他器件： TPA3118D2、 TAS5766M
您好！
用例：
PVDD：25VDC±0.25VDC
输出配置：PBTL
Rload：2.7欧姆
增益/开关频率：26dBV、768kHz
我们有几个 TAS5756M 器件单元、由于 DAC 输出和 IN+端子之间的交流耦合电容器上存在高泄漏、因此会跳闸直流失调偏移误差。
我们一直看到跳闸阈值远低于5VDC。 下面是我们从几个不同批次获取的数据集合： 
突出显示列中的电压是在七个不同的电路板上测得的、对于 同一电路板上的两个 TAS5756M IC、分别从 SPK_OUT+到 SPK_OUT-进行了差分测量-这两个 IC 均根据此帖子顶部的运行条件进行了配置。
数据表中没有该阈 值的规格、因此我们查看了 TPA3118数据表以获取指导(因为它与 TAS5756M/TAS5766M 器件中的功率级非常相似)。 根据 TPA3118D2数据表、该值应超过5VDC、如下所示：
但这远高于我们所看到的...
当然、TAS5766M 器件与'56M 非常相似、因此我们也参考了其数据表。 它还报告说、由于我们在 PVDD 上使用25Vdc 器件、因此在跳闸故障之前、我们应该在器件的输出上获得≈5V 的直流失调电压：
在进一步搜索中、我们找到了 TPA31xx 系列中有关直流偏移的常见应用手册、如下所示： https://www.ti.com/lit/an/sloa261/sloa261.pdf
查看后、本文档似乎表明阈值更类似于≈2.7VDC 
在我们的工作条件下、哪一项是正确的？
我们还想知道：
- 考虑到我们的工作条件、我们在室温下应该期望的标称跳变阈值是多少？
- 在特征评定或 PTE 数据中测量的该阈值的容差是多少(或者设计团队可以提供一些见解)？
- 您能否从 PTE 或特性数据中提供此参数的最小/最大数据？
我知道这些价值观没有公布、也没有得到保证、但我们正在尝试了解为什么我们会看到早期的跳闸点、并且需要了解问题的程度。 TPA3118或 TAS5766数据表提供的值似乎比我们测量的值高1.5到2倍。
提前感谢您的帮助、我们期待您的帮助。
Cody
