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[参考译文] TLV320AIC3104:编解码器环回测试的振幅上升

Guru**** 2553260 points
Other Parts Discussed in Thread: TLV320AIC3104

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/audio-group/audio/f/audio-forum/942769/tlv320aic3104-amplitude-rise-on-a-codec-loopback-test

器件型号:TLV320AIC3104

您好!

我们注意到、当我们对组件 TLV320AIC3104进行环回测试时、测量的振幅有所增加。
对于我们的环回测试、如下图(以黄色突出显示)所示、MIC2R/LINE2R 输入引脚(引脚16)通过1uF 电容器连接到 LEFT_LOP 输出引脚(引脚27)。

每次我们在设备上进行此验证时、我们都会分别以三个固定频率(400Hz、1kHz 和7kHz)运行三个波形、并测量每个波形的振幅、频率、SNR 和 SINAD。 只有振幅增加了、并且测量的所有其他参数仍然正确。  

下一张图片显示了在时间中测量的振幅的演变:  

正如您所看到的、当我们的振幅在10000以下(我不知道该器件)、直到2017年中期、我们现在的振幅通常高于10000。

我找不到导致此问题的根本原因、因为我们的设计和测试从一开始就没有变化。 除了测试是环回测试之外、我唯一的剩余导联是我们这里的间隙是由 TLV320AIC3104组件本身引起的。

但是、我在组件的数据表中没有发现可以解释这种行为的更改、这就是我需要您提供一些帮助来尝试找到问题的解释的原因。  

感谢您的支持。

Matteo

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    Matteo、您好!

    X 轴是执行测试的年份吗? 至于 Y 轴、您说您不知道该单位、但我想首先了解实际绘制的内容。  

    此致、

    Aaron

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    Matteo、您好!

    接下来、我想了解一些有关如何执行振幅测试的更多信息。 您说正在播放一个波形、然后测量振幅。 波形中是否有固定的振幅、或者是否正在调整振幅、您正在记录最大振幅? 有关如何进行测试的更多背景知识将非常有用。 谢谢!

    此致、
    Aaron  

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    Aaron、您好!

    首先、感谢您的回答。

    为了帮助您了解我的问题、我想添加一些背景信息、并为您提供有关此测试的更多详细信息。  

    该设备在测试台上进行测试。 在设备上进行的所有测试均由测试序列发生器驱动、在该序列发生器中、我只能访问测试的所有功能以及每个测试的通过/失败标准。 我没有访问测试方法的权限,因为测试序列发生器使用 DLL… 不幸的是、我无法访问这些 DLL 的源代码。

    对于我们感兴趣的测试、波的振幅固定为频率。 我没有波形类型的相关信息、但我假设波形是正弦波。 因此、测量的振幅是恒定的、因为波形的振幅是固定的。

    Y 轴上的值很可能是编解码器输出振幅的数字值。 您在图中看到的所有点都是在不同的设备序列号上测量的振幅值。 这不是我们在一个完全相同的设备上进行的测试。 保留该图的重要一点不是每个序列号具有不同的振幅值、而是自2017年以来测量的所有振幅值都有所增加、自2019年以来甚至更多。

    我已经进行了一些调查,我可以向您确认:  

    • 自2014年以来、我们没有更改设备(硬件或软件)的设计、 TLV320AIC3104 一直是我们设计中用于编解码器的组件
    • 测试方法的时间也没有变化

    我完全理解、我提供给您的所有信息都有点混乱、不像我希望的那样精确、但现在我无法为您提供更多信息、因为很遗憾我没有这些信息。  

    最后、我只想重点介绍 AIC3104组件、并向您提出有关该组件的问题:  

    是否有一些参数会影响在编解码器输出端测量的振幅,例如增益误差?  

    再次感谢您的支持。

    此致、

    Matteo

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    Matteo、您好!

    非常感谢您提供的详细信息。 这让我更深入地了解了如何执行测试以及如何收集数据。  

    至于您的问题、增益误差很可能是问题的罪魁祸首、也是我一开始所怀疑的。 增益误差可能因器件而异、原因有很多、例如所用材料的类型以及当时器件的制造位置。 我不能详细介绍这方面的内容、但现实地看到这种行为并不少见、并非所有器件都是同时制造的、具有相同的材料属性。  

    此致、

    Aaron

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    Aaron、您好!

    感谢您对增益误差可能产生的影响的解释。

    如果正如您所说、增益误差是导致增加的原因、我们已经注意到、这意味着我们唯一可以做的就是调整我们的测试容差以考虑到这种变化。

    在数据表中、我仅找到给定的增益误差标称值。  增益误差是否有某种最小值和最大值?

    此致、

    Matteo

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    您好、Matteo、

    我们在数据表中没有最小/最大增益误差值的原因是、这些器件不是精密器件、我们不会针对增益误差进行修整。 正如您提到的、数据表中的值是典型值、但我们看到它高达1dB - 1.2dB。

    此致、

    Aaron

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    您好、Aaron、

    好的、我现在对它的理解更好。

    因此,增益误差较高这一事实意味着我们将要测量的信号振幅也将在右侧更高。

    我想再次谈谈我们测量的振幅值。 正如我之前所说的、在我看来、这是一个在我们的测试过程中记录的数字值。

    是否有可能测量的值是组件内部 ADC 输出的值?

    我问您,因为在再次查看组件的功能方框图之后,我已经考虑了我们的环回测试的方式:  

    • 与编解码器通信的 DSP 通过 DIN 输入(引脚4)发送用于环回测试的命令  
    • 内部 DAC 将数字信号转换为模拟信号、该模拟信号来自 LEFT_LOP 输出端的 AIC3104 (引脚27)
    • 外部回路使该模拟信号进入 MIC2R/LINE2R 输入端(引脚16)的 AIC3104中
    • 然后、信号由内部 ADC 转换、我们通过 DOUT 输出(引脚5)将数据发送到 DSP

    你认为我的解释是一致的还是完全错误的?  

    感谢您的支持。

    此致、

    Matteo

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    Matteo、您好!

    我相信您对增益误差影响的理解是正确的。 我想从这个角度来看、如果我们有一个输出代码、比如3000、增益误差0dB。 这意味着3000的输出代码是真正的代码。 当我们增加此增益误差时、3000的输出代码将表示更高的代码、因此看起来像实际提供的更高的信号电平。  

    至于测量的 ADC 输出、完全可以将这些作为输出代码、但很有意思的一点是、可以看到 DAC 输入是什么。 您知道它是否是满量程输入吗? 满量程 DAC 输出为2Vpp 或0.707Vrms、因此如果记录了该值、我们可以使用该值来查看 ADC 输入的内容。 如果是满量程输入、则不确定记录的 ADC 值是多少。 如果使用16位数据(这是最小分辨率)、则满量程输出代码大约为32768 (不包括任何增益误差)。 您展示的图具有大约10000处的值。  


    此致、

    Aaron

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    Aaron、您好!

    感谢您的回答、这对我很有帮助、可以帮助我了解我们的系统中发生了什么。

    DAC 输入不是满量程输入。 为测试发送的命令行提到输入音量25和输出音量80。 我认为这允许控制输入和输出信号的振幅。

    自从上周以来,我一直在尝试获得更多有关所有缺失的信息,以便我们能够完美地理解问题,但我没有在 DLL 代码上找到试验序列的东西。 我目前正在尝试查找设备软件上是否存在有趣的内容。

    如果我发现与您分享一些有趣的东西、我会回来与您分享。

    再次感谢你。

    此致、

    Matteo

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    您好、Matteo、

    很高兴我能提供帮助! 我已将此标记为 TI 认为已解决、并将关闭此主题。 如果您有任何疑问、请回复重新打开主题帖。  

    此致、

    Aaron