您好!
我们注意到、当我们对组件 TLV320AIC3104进行环回测试时、测量的振幅有所增加。
对于我们的环回测试、如下图(以黄色突出显示)所示、MIC2R/LINE2R 输入引脚(引脚16)通过1uF 电容器连接到 LEFT_LOP 输出引脚(引脚27)。
每次我们在设备上进行此验证时、我们都会分别以三个固定频率(400Hz、1kHz 和7kHz)运行三个波形、并测量每个波形的振幅、频率、SNR 和 SINAD。 只有振幅增加了、并且测量的所有其他参数仍然正确。
下一张图片显示了在时间中测量的振幅的演变:
正如您所看到的、当我们的振幅在10000以下(我不知道该器件)、直到2017年中期、我们现在的振幅通常高于10000。
我找不到导致此问题的根本原因、因为我们的设计和测试从一开始就没有变化。 除了测试是环回测试之外、我唯一的剩余导联是我们这里的间隙是由 TLV320AIC3104组件本身引起的。
但是、我在组件的数据表中没有发现可以解释这种行为的更改、这就是我需要您提供一些帮助来尝试找到问题的解释的原因。
感谢您的支持。
Matteo